| |
|
|
| Registros recuperados : 1 | |
| Registros recuperados : 1 | |
|
|
|
 | Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
|
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
|
Data corrente: |
01/02/2006 |
|
Data da última atualização: |
01/02/2006 |
|
Autoria: |
SOUZA, A. L. de; LEITE, F. de L.; HERRMANN JUNIOR, P. S. P.; RODRIGUES FILHO, U. P. |
|
Título: |
Tailoring surfaces using aminoalkoxysilanes and phosphotungstic acid, characterized by the use of the atomic force microscopy. |
|
Ano de publicação: |
2005 |
|
Fonte/Imprenta: |
In: LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM. |
|
Idioma: |
Inglês |
|
Conteúdo: |
In the earlier 80's the pioneer work of Sagiv has introduced the formation of self-assembly monolayer (SAM) with siloxane compounds [1], opening a whole new area for the application of these compounds. A wide variety of organosilanes has been used in the chemical modification of the surfaces aminopropyltriethoxysilane (APTS), N-(3-(trimethoxysilyl)-propyl)-ethylenodiamine (TSPEN) and their hybrid fulms with 12-tugstophosphoric acid on oxidized silicon wafer surface, SiO2/Si(100). |
|
Palavras-Chave: |
AFM; SAM; TSPEN. |
|
Categoria do assunto: |
-- |
|
Marc: |
LEADER 01150naa a2200193 a 4500
001 1029436
005 2006-02-01
008 2005 bl --- 0-- u #d
100 1 $aSOUZA, A. L. de
245 $aTailoring surfaces using aminoalkoxysilanes and phosphotungstic acid, characterized by the use of the atomic force microscopy.
260 $c2005
520 $aIn the earlier 80's the pioneer work of Sagiv has introduced the formation of self-assembly monolayer (SAM) with siloxane compounds [1], opening a whole new area for the application of these compounds. A wide variety of organosilanes has been used in the chemical modification of the surfaces aminopropyltriethoxysilane (APTS), N-(3-(trimethoxysilyl)-propyl)-ethylenodiamine (TSPEN) and their hybrid fulms with 12-tugstophosphoric acid on oxidized silicon wafer surface, SiO2/Si(100).
653 $aAFM
653 $aSAM
653 $aTSPEN
700 1 $aLEITE, F. de L.
700 1 $aHERRMANN JUNIOR, P. S. P.
700 1 $aRODRIGUES FILHO, U. P.
773 $tIn: LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.
Download
Esconder MarcMostrar Marc Completo |
|
Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
|
|
Biblioteca |
ID |
Origem |
Tipo/Formato |
Classificação |
Cutter |
Registro |
Volume |
Status |
Fechar
|
| Nenhum registro encontrado para a expressão de busca informada. |
|
|
