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Registro Completo |
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
05/04/2005 |
Data da última atualização: |
05/04/2005 |
Autoria: |
FIRMINO, A.; BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; RIUL JR.; A.; BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. |
Título: |
AFM as a tool for development sensors. |
Ano de publicação: |
2003 |
Fonte/Imprenta: |
Acta Microscopica, Maracaibo, v. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM. |
Idioma: |
Inglês |
Conteúdo: |
Atomic force microscopy (AFM) is a powerful tool for the characterisation of poiymeric fthns [ 1-4], however, only a few studies have being IDade using this technique in sensor applications. In the present work, It has been employed in the development of a taste sensor, siIK:.e the study of the interfacial phenomena at the electrode/electroiyte interface may lead to a better comlX"ehension of the basic transducing processes occurring at the nano-scale. |
Palavras-Chave: |
Microscopia de Força Atômica; Polímeros; Sensores; Superfície. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
LEADER 01231naa a2200241 a 4500 001 1028910 005 2005-04-05 008 2003 bl --- 0-- u #d 100 1 $aFIRMINO, A. 245 $aAFM as a tool for development sensors. 260 $c2003 520 $aAtomic force microscopy (AFM) is a powerful tool for the characterisation of poiymeric fthns [ 1-4], however, only a few studies have being IDade using this technique in sensor applications. In the present work, It has been employed in the development of a taste sensor, siIK:.e the study of the interfacial phenomena at the electrode/electroiyte interface may lead to a better comlX"ehension of the basic transducing processes occurring at the nano-scale. 653 $aMicroscopia de Força Atômica 653 $aPolímeros 653 $aSensores 653 $aSuperfície 700 1 $aBORATO, C. E. 700 1 $aLEITE, F. L. 700 1 $aRIUL JR. 700 1 $aA. 700 1 $aBERNARDES FILHO, R. 700 1 $aMATTOSO, L. H. C. 773 $tActa Microscopica, Maracaibo$gv. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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URL |
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Registros recuperados : 32 | |
9. | | RIUL, JR. A.; VENANCIO, E. C.; HERRMANN, P. S. P.; MATTOSO, L. H. C. Effect of analytes in altering the morphology of langmuir-blodgett films of conducting polymers. Acta Microscopica, Maracaibo, v. 10, p. 162-166, 2001. Supplement 1. Proceedings of the First Latin American Symposium on Scanning Microscopy, São Pedro, apr. 2001.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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13. | | FIRMINO, A.; BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; RIUL JR.; A.; BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. AFM as a tool for development sensors. Acta Microscopica, Maracaibo, v. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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15. | | RIUL JR, A.; DHANABALAN, A.; MATTOSO, L. H. C.; SOUZA, L. M. de; TICIANELLI, E. A.; OLIVEIRA JR, O. N. Characterization of 16-mer polyaniline composite Lamgmuir-blodgett films. Thin solid films, Lausanne, v. 327/329, p. 576-580, 1998.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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Registros recuperados : 32 | |
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