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Registro Completo |
Biblioteca(s): |
Embrapa Tabuleiros Costeiros. |
Data corrente: |
28/01/2016 |
Data da última atualização: |
09/03/2016 |
Tipo da produção científica: |
Artigo em Anais de Congresso |
Autoria: |
SANTOS, M. C. dos; MEIRA, A. N. M.; MELO FILHO, G. M. de; RIBEIRO, N. S.; ARAUJO, M. G. de O.; COUTINHO, L. L.; AZEVEDO, H. C.; PINTO, L. F. B. |
Afiliação: |
MARCOS CRUZ DOS SANTOS; ARIANA NASCIMENTO MEIRA; GERALDO MAGALHAES DE MELO FILHO; NICOLLE SANTOS RIBEIRO; MARIA GABRIELA DE OLIVEIRA ARAUJO; LUIZ LEHAMN COUTINHO; HYMERSON COSTA AZEVEDO, CPATC; LUIS FERNANDO BATISTA PINTO. |
Título: |
Polimorfismos no gene da leptina em ovinos Santa Inês. |
Ano de publicação: |
2015 |
Fonte/Imprenta: |
In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ZOOTECNIA, 25., 2015, Fortaleza. Dimensões tecnológicas e sociais da zootecnia: anais. Fortaleza: Sociedade Brasileira de Zootecnia, 2015. |
Idioma: |
Português |
Palavras-Chave: |
RESUMO EXPANDIDO; Santa Inês. |
Thesagro: |
OVINO. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Tabuleiros Costeiros (CPATC) |
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Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
10/03/2005 |
Data da última atualização: |
10/03/2005 |
Autoria: |
BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. |
Título: |
Microscopia de força atômica. |
Ano de publicação: |
2004 |
Fonte/Imprenta: |
In: CANEVAROLO JR., S.V. (coord). Técnicas de caracterização de polímeros. São Paulo: Artliber, 2004. cap. 10, p. 201-207. |
Idioma: |
Português |
Conteúdo: |
O uso de diferentes técnicas de microscopia de força atômica tem propiciado avanços substantivos no estudo de polímeros, devido, principalmente, à possibilidade de se realizar medidas sem necessidade de recobrimento com metal ou uso do vácuo, o que reduz significativamente as alterações decorrentes destes métodos de preparação de amostras. Desta forma a microscopia de força atômica possibilita o estudo das superfícies de polímeros com resolução superior à obtida com a microscopia de varredura eletrônica, além de propiciar a obtenção de dados adicionais, como força magnética, força elétrica, rugosidade e dados tribológicos. Neste capítulo, serão apresentados os fundamentos da microscopia de força atômica, bem como exemplos de sua utilização no estudo de polímeros.
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Palavras-Chave: |
AFM; MFA; Microscopia de varredura de força; MVF; Nano-escala; SFM. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
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Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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