01389naa a2200205 a 450000100080000000500110000800800410001910000240006024500360008426000090012052008130012965300080094265300080095065300390095865300080099765300160100565300080102170000220102977301320105110286472005-03-10       2004    bl ---       0--  u    #d1 aBERNARDES FILHO, R.  aMicroscopia de força atômica.  c2004  aO uso de diferentes técnicas de microscopia de força atômica tem propiciado avanços substantivos no estudo de polímeros, devido, principalmente, à possibilidade de se realizar medidas sem necessidade de recobrimento com metal ou uso do vácuo, o que reduz significativamente as alterações decorrentes destes métodos de preparação de amostras. Desta forma a microscopia de força atômica possibilita o estudo das superfícies de polímeros com resolução superior à obtida com a microscopia de varredura eletrônica, além de propiciar a obtenção de dados adicionais, como força magnética, força elétrica, rugosidade e dados tribológicos. Neste capítulo, serão apresentados os fundamentos da microscopia de força atômica, bem como exemplos de sua utilização no estudo de polímeros.  aAFM  aMFA  aMicroscopia de varredura de força  aMVF  aNano-escala  aSFM1 aMATTOSO, L. H. C.  tIn: CANEVAROLO JR., S.V. (coord). Técnicas de caracterização de polímeros. São Paulo: Artliber, 2004. cap. 10, p. 201-207.