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Registro Completo |
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
20/01/2006 |
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Data da última atualização: |
20/01/2006 |
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Autoria: |
FRANCO, H. J. A.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P. |
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Título: |
A influência da geometria no desenvolvimento de eletrodos, a base de papel, feitos com a técnica de formação de trilhas e polianilina, para sensores de amadurecimento de frutas. |
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Ano de publicação: |
2005 |
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Fonte/Imprenta: |
In: SIMPÓSIO INTERNACIONAL DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA USP, 13., 2005, São Carlos. [Anais...]. [São Paulo]: [USP], 2005. Engenharia e exatas/Química. 1 CD-ROM. |
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Idioma: |
Português |
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Conteúdo: |
Analisar e estudar a influência de diferentes geometrias, construídas com a técnica de formação de trilhas, na resposta de sensores de papel, usando como camada ativa polianilina-HCl, durante o amadurecimento de frutas. |
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Palavras-Chave: |
Amadurecimento de frutas; Polímero condutor; Sensores de papel. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
LEADER 00952naa a2200169 a 4500
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520 $aAnalisar e estudar a influência de diferentes geometrias, construídas com a técnica de formação de trilhas, na resposta de sensores de papel, usando como camada ativa polianilina-HCl, durante o amadurecimento de frutas.
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773 $tIn: SIMPÓSIO INTERNACIONAL DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA USP, 13., 2005, São Carlos. [Anais...]. [São Paulo]: [USP], 2005. Engenharia e exatas/Química. 1 CD-ROM.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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Biblioteca |
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Registro |
Volume |
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 | Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
25/04/2003 |
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Data da última atualização: |
22/07/2010 |
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Autoria: |
LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. |
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Afiliação: |
Universidade de São Paulo, São Carlos, SP.; Embrapa Instrumentação Agropecuária, São Carlos, SP. |
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Título: |
Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). |
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Ano de publicação: |
2003 |
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Fonte/Imprenta: |
Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. |
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Idioma: |
Português |
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Notas: |
CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM. |
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Conteúdo: |
The formation of water film on surface of materials, mainly in the soil minerals, is a important feature because it is related with many physical, chemical and biological processes occurrin in soils. One of the main properties involved is the capillary phenomenon, which is related to the interaction of the van der Waals force. The investigation of this property, in the nanoscale, introduces a new concept to characterize the dynamic of the aggregate, whic is normally observed in the micrometer and macro scale. |
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Palavras-Chave: |
AFM; Microscopia de força atômica; Water film. |
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Thesaurus NAL: |
soil minerals. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
LEADER 01245naa a2200193 a 4500
001 1024605
005 2010-07-22
008 2003 bl uuuu u00u1 u #d
100 1 $aLEITE, F. L.
245 $aCaracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM).
260 $c2003
500 $aCD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM.
520 $aThe formation of water film on surface of materials, mainly in the soil minerals, is a important feature because it is related with many physical, chemical and biological processes occurrin in soils. One of the main properties involved is the capillary phenomenon, which is related to the interaction of the van der Waals force. The investigation of this property, in the nanoscale, introduces a new concept to characterize the dynamic of the aggregate, whic is normally observed in the micrometer and macro scale.
650 $asoil minerals
653 $aAFM
653 $aMicroscopia de força atômica
653 $aWater film
700 1 $aHERRMANN, P. S. P.
773 $tActa Microscopica, Maracaibo$gv.12, Apr. 2003. Supplement A.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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