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Registro Completo
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
13/01/2006 |
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Data da última atualização: |
13/01/2006 |
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Autoria: |
OSIRO, D.; COLETA FILHO, E. D.; MACHADO, M. A.; COLNAGO, L. A. |
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Título: |
Estudos iniciais da Xylella Fastidiosa por microscopia de força atômica. |
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Ano de publicação: |
2000 |
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Fonte/Imprenta: |
In: SIMPÓSIO NACIONAL DE INSTRUMENTAÇÃO AGROPECUÁRIA, 2, São Carlos, 2000. Anais.... São Carlos: Embrapa Instrumentação Agropecuária, 2000. p. 267-272. Editores: Paulo Estevão Cruvinel; Luiz Alberto Colnago; Andre Torre Neto. |
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Idioma: |
Português |
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Conteúdo: |
Foi utilizado o microscópio de força atômica (AFM) para o estudo da morfologia da bactéria Xylella fastidiosa. A topografia foi investigada através do modo contato e não contato em condições ambientais. |
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Palavras-Chave: |
AFM. |
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Thesagro: |
Amarelinho; Bactéria; Xilema. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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