00933naa a2200205 a 450000100080000000500110000800800410001910000140006024500790007426000090015352002150016265000150037765000140039265000110040665300080041770000240042570000190044970000190046877302400048710292152006-01-13       2000    bl ---       0--  u    #d1 aOSIRO, D.  aEstudos iniciais da Xylella Fastidiosa por microscopia de força atômica.  c2000  aFoi utilizado o microscópio de força atômica (AFM) para o estudo da morfologia da bactéria Xylella fastidiosa. A topografia foi investigada através do modo contato e não contato em condições ambientais.  aAmarelinho  aBactéria  aXilema  aAFM1 aCOLETA FILHO, E. D.1 aMACHADO, M. A.1 aCOLNAGO, L. A.  tIn: SIMPÓSIO NACIONAL DE INSTRUMENTAÇÃO AGROPECUÁRIA, 2, São Carlos, 2000. Anais.... São Carlos: Embrapa Instrumentação Agropecuária, 2000. p. 267-272. Editores: Paulo Estevão Cruvinel; Luiz Alberto Colnago; Andre Torre Neto.