01648nam a2200121 a 450000100080000000500110000800800410001910000220006024500780008226000290016030000100018952013270019916909412006-04-07       1996    bl uuuu      00u1 u    #d1 aSANTOS, J. M. dos  aMicroscópia eletrônica de varredura aplicada às ciências biológicas.  aJaboticabal: UNESPc1996  a56 p.  aI PARTE. Poder de resolução. Súmula histórica da microscopia eletrônica. Teoria da microscopia eletrônica de varredura. Interação do feixe primário de elétrons com o espécimen. Formação da imagem no MEV. Ampliação da imagem no MEV. Fatores que influenciam a qualidade de imagem. Estéreo elétrom-micrografias. Orientação do espécimen em relação ao detector. influência da descarga ("charge-up") sobre a qualidade da imagem. Preparação de espécimens para a microscopia eletrônica de varredura. Limpeza do espécimen. Fixação. Desidratação. Secagem do espécimen. Montagem da amostra. Metalização. Noções básicas sobre a fotografia. Teoria básica. II PARTE. Como ligar a máquina. Como inserir ou trocar um espécimen. Alinhamento do MEV. Saturação do filamento. Correção do astigmatismo. Tomando elétrons-micrografias ("fotografando"). Como trocar o filme na máquina. desligando  o MEV. Revelação do filme. copiando elétron-micrografias (=fazendo as "fotos"). Técnica de remoção da imagem. Materiais necessários: procedimento. Preparo de soluções-tampões. Instruções para operação do secador de ponto crítico (SPC) marca TOUSIMIS 780 A. Instruções para operação do metalizador JEOL ION SPUTTER JFC- 1100. Cuidados recomendados no manuseio de tetróxido de ósmo.