BDPA - Bases de Dados da Pesquisa Agropecuária Embrapa
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1.Imagem marcado/desmarcadoDINI, M.; OLIVEIRA, I. P. de; FARIAS, P. M.; FRANZON, R. C. Crescimento inicial de seedlings de mirtileiro com diferentes substratos e fertilizante organomineral. In: ENCONTRO SOBRE PEQUENAS FRUTAS E FRUTAS NATIVAS DO MERCOSUL, 7., 2016, Pelotas. Palestras e resumos... Pelotas: Embrapa Clima Temperado, 2016. 459 p. p. 107-111

Biblioteca(s): Embrapa Clima Temperado.

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2.Imagem marcado/desmarcadoFARIAS, P. M de; LIMA, L. V. de; LIMA, J. R.; TORRES, L. B. de V. Estudo e otimização do processo de extração da mucilagem de palma forrageira. Higiene Alimentar, v. 29, n. 242-243, p. 4774-4778, 2015.

Biblioteca(s): Embrapa Agroindústria Tropical.

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3.Imagem marcado/desmarcadoCONCENCO, G.; FARIAS, P. M. de; QUINTERO, N. F. A.; SCHREIBER, F.; GALON, L.; TOMAZI, M.; MOISINHO, I. S.; CORADINI, M. C.; CEOLIN, W. C.; ANDRES, A. Phytosociological Surveys in Weed Science: Old Concept, New Approach. In: PACANOSKI, Z. (Ed.). Herbicide resistance in weeds and crops. Rijeka: INTECH, 2017, 184 p. Cap. 7.

Biblioteca(s): Embrapa Clima Temperado.

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4.Imagem marcado/desmarcadoFROTA, M. M.; MIRANDA, K. W. E.; MARQUES, V. S.; MIGUEL, T. B. A. R.; MATTOS, A. L. A.; MIGUEL, E. DE C.; SANTOS, N. L. DOS; SOUZA, T. M. DE; SALOMÃO, F. C. C. S.; FARIAS, P. M. DE; BASTOS, M. do S. R.; VASCONCELOS, L. B. DE. Modified bacterial nanofibril for application in superhydrophobic coating of food packaging. Surfaces and Interfaces, 46, 103991, 2024.

Biblioteca(s): Embrapa Agroindústria Tropical.

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1.Imagem marcado/desmarcadoRABELLO, L. M.; CRUVINEL, P. E.; ALTAFIM, R. A. C. Tomógrafo portátil em técnicas de imagem por medidas de impedâncias para uso em ambiente agropecuário. In: OFICINA DA PÓS-GRADUAÇÃO DO DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA ELÉTRICA DA ESCOLA DE ENGENHARIA DE SÃO CARLOS, 1., 2000, São Carlos. [Resumos estendidos...]. São Carlos: USP-EESC, 2000. 4 f. 1 CD-ROM.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
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2.Imagem marcado/desmarcadoRABELLO, L. M.; CRUVINEL, P. E.; ALTAFIM, R. A. C. An improved electric impedance tomography dedicated to agriculture applications. In: MASTORAKIS, N. E. (Ed.). Advances in intelligent systems and computer science. [Athens]: World Scientific and Engineering Society Press, 1999. p.305-309
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
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3.Imagem marcado/desmarcadoRABELLO, L. M.; CRUVINEL, P. E.; ALTAFIM, R. A. C. An improved electric tomography dedicated to agriculture applications. In: WORLD MULTICONFERENCE ON: CIRCUITS, SYSTEMS, COMMUNICATIONS AND COMPUTERS (IEEE/WSES/IMACS), 3., 1999, Athens. Proceedings... [Athens]: World Scientific Engineering Society, 1999. p.5291-5295, ref. 529. Editor Nikos E. Mastorakis. 1 CD-ROM.
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4.Imagem marcado/desmarcadoHERMANN, P. S. P.; CARDOSO, L. P.; ALTAFIM, R. A. C.; MURAKAMI, C. R. Surface analysis with atomic force microscopy (AFM) of polyurethane resins derived from castor oil with filler. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE MICROSCOPIA DE MATERIAIS - MICROMAT, 7., 2000, São Pedro, SP. MICROMAT 2000: abstracts... São Carlos: [UFSCar], 2000. p. 16., ref. RE004-013.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
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5.Imagem marcado/desmarcadoALTAFIM, R. A. C.; MURAKAMI, C. R.; HERRMANN, P. S. P.; NAIME, J. M.; CRUVINEL, P. E.; CARDOSO, L. P. Uma nova metodologia para análise dos materiais dielétricos usados em isoladores poliméricos. In: ENCONTRO REGIONAL LATINO AMERICANO DA CIGRÉ-ERLAC - ENCUENTRO REGIONAL LATINO AMERICANO DEL CIGRÉ, 9., 2001, Foz do Iguaçu. IX Erlac: anais. [Foz do iguaçu]: Cigré, 2001. 5 f. 1 CD-ROM.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
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6.Imagem marcado/desmarcadoCRUVINEL, P. E.; RABELLO, L. M.; MASCARENHAS, S.; ALTAFIM, R. A. C.; GIGANTE, G. E.; STADERINI, E. M.; CESAREO, R. Tomografia por impedância elétrica e seus possíveis usos na agropecuária. São Carlos, SP: Embrapa Instrumentação Agropecuária, 1998. (Embrapa Instrumentação Agropecuária. Pesquisa em Andamento, 26).
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7.Imagem marcado/desmarcadoMURAKAMI, C. R.; ALTAFIM, R. A. C.; BONOMO, A.; CRUVINEL, P. E.; CHIERICE, G. O.; AGNELLI, J. A. M. Study of pin-type polymeric electric insulators: manufacturing process, tomographic analyses and electrical and mechanical tests. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON PROPERTIES AND APPLICATIONS OF DIELECTRIC MATERIALS, 7., jun. 2003. Nagoya, Japan. Proceedings... Nagoya, 2003. ref. P4-34.
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8.Imagem marcado/desmarcadoALTAFIM, R. A.; MURAKAMI, C. R.; CRUVINEL, P. E.; NAIME, J. M.; CHIERICE, G. O.; MASCARENHAS, S. Computed X-ray tomography for analyzing polymer insulators. In: CONFERENCE ON ELECTRICAL INSULATION AND DIELECTRIC PHENOMENA-CEIDP, 2001, Kitchener. CEIDP 2000: Annual report. [S. l.]: IEEE Dielectrics and Insulation Society, 2001. p. 149-152. ref. 01ch37225.
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