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Registros recuperados : 6 | |
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Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
07/02/2006 |
Data da última atualização: |
07/02/2006 |
Autoria: |
LEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; HERMANN, P. S. P. |
Título: |
Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS). |
Ano de publicação: |
2005 |
Fonte/Imprenta: |
Microsc Microanal, v.11 (supp.3), p.130-133, 2005. |
Idioma: |
Inglês |
Conteúdo: |
In this paper, we employ AFS to measure adhesion (pull-off force) between the AFM tip and two types of substrate. Adhesion maps are used to illustrate sample regions that had been contaminated with organic compounds. |
Palavras-Chave: |
Adhesion forces; Atomic Force Spectroscopy. |
Thesaurus NAL: |
roughness; van der Waals forces. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
LEADER 00826naa a2200205 a 4500 001 1029342 005 2006-02-07 008 2005 bl --- 0-- u #d 100 1 $aLEITE, F. L. 245 $aAdhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS). 260 $c2005 520 $aIn this paper, we employ AFS to measure adhesion (pull-off force) between the AFM tip and two types of substrate. Adhesion maps are used to illustrate sample regions that had been contaminated with organic compounds. 650 $aroughness 650 $avan der Waals forces 653 $aAdhesion forces 653 $aAtomic Force Spectroscopy 700 1 $aZIEMATH, E. C. 700 1 $aOLIVEIRA JÚNIOR, O. N. 700 1 $aHERMANN, P. S. P. 773 $tMicrosc Microanal$gv.11 (supp.3), p.130-133, 2005.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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