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Registro Completo |
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Biblioteca(s): |
Embrapa Amapá. |
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Data corrente: |
17/01/2021 |
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Data da última atualização: |
17/01/2021 |
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Tipo da produção científica: |
Capítulo em Livro Técnico-Científico |
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Autoria: |
SEGOVIA, J. F. O.; ORELLANA, J. B. P.; KANZAKI, L. I. B. |
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Afiliação: |
JORGE FEDERICO ORELLANA SEGOVIA, CPAF-AP; JORGE BRENO PALHETA ORELLANA, MINISTÉRIO DA CIDADANIA, Brasília, DF; LUIS ISAMU BARROS KANZAKI, UNB. |
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Título: |
Características físico-químicas dos principais solos na Amazônia. |
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Ano de publicação: |
2020 |
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Fonte/Imprenta: |
In: SEGOVIA, J. F. O. (Ed.). Floricultura tropical : técnicas e inovações para negócios sustentáveis na Amazônia. Brasília, DF : Embrapa, 2020. cap. 3, p. 43-66. |
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Idioma: |
Português |
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Thesagro: |
Classificação do Solo; Planta Ornamental. |
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Categoria do assunto: |
F Plantas e Produtos de Origem Vegetal |
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URL: |
https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/220362/1/CPAF-AP-2020-cap-3-Caracteristicas-fisico.pdf
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Amapá (CPAF-AP) |
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Biblioteca |
ID |
Origem |
Tipo/Formato |
Classificação |
Cutter |
Registro |
Volume |
Status |
URL |
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 | Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
25/04/2003 |
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Data da última atualização: |
22/07/2010 |
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Autoria: |
MATTOSO, L. H. C.; RIUL JR. A.; HERRMANN, P. S. P.; BERNARDES FILHO, R. |
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Afiliação: |
Embrapa Instrumentação Agropecuária, São Carlos, SP. |
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Título: |
Use of atomic force microscopy for the study of polymers. |
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Ano de publicação: |
2003 |
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Fonte/Imprenta: |
Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, 2003. Supplement A |
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Idioma: |
Inglês |
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Notas: |
CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 1 f. 1 CD-ROM. |
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Conteúdo: |
Atomic force microscopy (AFM) and other scanning probe microscopy (SPM) techniques are receiving a great attention in the last years due to their enormous potential of investigation of materials at the nanoscale. They posses several advantages over the common electon microscopy techniques for the study of materials such as greater resolution, surface properties such as stiffness, hardness, adhesion, etc, can be evaluated, measurements can be taken inside solutions, assessment of chemical interactions between samples and tips modified with different chemical species, etc. For instance, atomic force microscopy can be successfully used to study the morphology, quantify the roughness and chek microscopically several other surface properties. The aim of this presentation is to provide some insight on the use of AFM technique as a tool for the study of conducting polymers blends, self-assembled and nanostructured thin films for sensor applications and natural fibers and their modification by benzylation and plasma tretment. The morphology and roughness of these materials can be significantly modified as a function of the surface tratment used, as shown by AFM, which presented to be a prowerful tool for studying different types of polymers. |
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Palavras-Chave: |
Microscopia de força atômica; Polímero; Técnicas de microscopia. |
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Thesaurus NAL: |
atomic force microscopy. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
LEADER 01996naa a2200217 a 4500
001 1024688
005 2010-07-22
008 2003 bl uuuu u00u1 u #d
100 1 $aMATTOSO, L. H. C.
245 $aUse of atomic force microscopy for the study of polymers.
260 $c2003
500 $aCD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 1 f. 1 CD-ROM.
520 $aAtomic force microscopy (AFM) and other scanning probe microscopy (SPM) techniques are receiving a great attention in the last years due to their enormous potential of investigation of materials at the nanoscale. They posses several advantages over the common electon microscopy techniques for the study of materials such as greater resolution, surface properties such as stiffness, hardness, adhesion, etc, can be evaluated, measurements can be taken inside solutions, assessment of chemical interactions between samples and tips modified with different chemical species, etc. For instance, atomic force microscopy can be successfully used to study the morphology, quantify the roughness and chek microscopically several other surface properties. The aim of this presentation is to provide some insight on the use of AFM technique as a tool for the study of conducting polymers blends, self-assembled and nanostructured thin films for sensor applications and natural fibers and their modification by benzylation and plasma tretment. The morphology and roughness of these materials can be significantly modified as a function of the surface tratment used, as shown by AFM, which presented to be a prowerful tool for studying different types of polymers.
650 $aatomic force microscopy
653 $aMicroscopia de força atômica
653 $aPolímero
653 $aTécnicas de microscopia
700 1 $aRIUL JR. A.
700 1 $aHERRMANN, P. S. P.
700 1 $aBERNARDES FILHO, R.
773 $tActa Microscopica, Maracaibo$gv.12, 2003. Supplement A
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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