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| Registros recuperados : 3 | |
| 1. |  | ROQUE, A. A. de O.; SOUZA, Z. M. de; BARBOSA, R. S.; SOUZA, G. S. de. Controle de tráfego agrícola e atributos físicos do solo em área cultivada com cana-de-açúcar. Pesquisa Agropecuária Brasileira, Brasília, DF, v. 45, n. 7, p. 744-750, jul. 2010 Título em inglês: Agricultural traffic control and soil physical attributes in sugarcane areas.| Biblioteca(s): Embrapa Unidades Centrais. |
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| 3. | | RONQUIM, C. C.; GUILARDI, V.; AGUIAR, D. A. DE; ROQUE, A. A. DE O.; RUDORFF, B. F. T.; DRUGOWICH, M. I.; MOREIRA, M. A. Uso de geotecnologias para análise da dinâmica das áreas de citros e cana-de-açúcar nos últimos 26 anos na Bacia do Mogi-Pardo. In: SIMPÓSIO BRASILEIRO DE SENSORIAMENTO REMOTO, 17., 2015, João Pessoa. Anais... São José dos Campos: INPE, 2015. p. 3361-3368.| Biblioteca(s): Embrapa Territorial. |
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| Registros recuperados : 3 | |
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 | Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
29/03/2006 |
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Data da última atualização: |
29/03/2006 |
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Autoria: |
ASSIS, O. B. G.; BERNARDES-FILHO, R.; PESSOA, J. D. C. |
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Título: |
The surface roughness assessment: a comparison between AFM and SEM profile lines. |
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Ano de publicação: |
1998 |
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Fonte/Imprenta: |
In: INTERNATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY=MEMORIAS DEL CONGRESO INTERNACIONAL DE MICROSCOPÍA ELETRÓNICA-ICEM, 14., 1998, Cancún. Electron microscopy 1998: paper presented... Bristol: Institute of Physics Publshing, 1998. v.3, p. 703-704. Edited by: Héctor A. Calderón Benavides, Miguel José Yacamán. |
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Idioma: |
Inglês |
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Conteúdo: |
The ability to visualize and quantify surface roughness is fundamental in understanding how to process materials with improved performance since surface conditions govern a great range of engineering materials properties. For such assessment, the most widely used measuring instrument isthe mechanical profilometer. |
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Palavras-Chave: |
AFM; Atomic Force Microscope; Scanning Electron Microscope; Scanning Probe Microscope; SEM; SPM. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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