Data/hora: 16/06/2024 19:20:00

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 26/08/2005
Data da última atualização: | 26/08/2005
Autoria: | HERRMANN, P. S. P.
Título: | Aplicação de microscopia por varredura de sonda em mineralogia.
Ano de publicação: | 2001
Fonte/Imprenta: | In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CIENCIA DO SOLO, 28., 2001, Londrina. Ciência do solo: fator de produtividade competitiva com sustentabilidade. Resumos... Londrina: Sociedade Brasileira de Ciência do Solo, 2001. p. 35, ref. P-18.
Idioma: | Português
Conteúdo: | Investigações realizadas em superfície que possibilitam variar a faixa de escala de micrômetros à subnanometro, bem como a medida de forças ultra-baixa exercidas deviao a interação com a superfície utilizando a microscopia de força atômica.
Palavras-Chave: | Microscopia de Força Atômica; subnanometro.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (8929-1) - UPC - SP - -- - PROCI-01.00024 -  - 2001.00024 - DIS