Data/hora: 01/06/2024 04:26:06

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	13/01/2006	
Data da última atualização: 	13/01/2006	
Autoria: 	OSIRO, D.; COLETA FILHO, E. D.; MACHADO, M. A.; COLNAGO, L. A.	
Título: 	Estudos iniciais da Xylella Fastidiosa por microscopia de força atômica.	
Ano de publicação: 	2000	
Fonte/Imprenta: 	In: SIMPÓSIO NACIONAL DE INSTRUMENTAÇÃO AGROPECUÁRIA, 2, São Carlos, 2000. Anais.... São Carlos: Embrapa Instrumentação Agropecuária, 2000. p. 267-272. Editores: Paulo Estevão Cruvinel; Luiz Alberto Colnago; Andre Torre Neto.	
Idioma: 	Português	
Conteúdo: 	Foi utilizado o microscópio de força atômica (AFM) para o estudo da morfologia da bactéria Xylella fastidiosa. A topografia foi investigada através do modo contato e não contato em condições ambientais.	
Palavras-Chave: 	AFM.	
Thesagro: 	Amarelinho; Bactéria; Xilema.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (9149-1) - UPC - SP - -- - PROCI-00.00222 -  - 2000.00222 - DIS