Consulta: (autoria:"INAMASU, R. T.")
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Data/hora: 12/06/2024 10:16:53

mACEDO, A.; CRUVINEL, P. E.; INAMASU, R. T.; JORGE, L. A. C.; NAIME, J. M.; TORRE-NETO, A.; VAZ, C. M. P.; CRESTANA, S. Micrometric X-ray CT scanner dedicated to soil investigation. In: WORLD CSCC (CIRCUITS, SYSTEMS, COMMUNICATIONS CSCC'99), 3., 1999, Athens. Proceedings... Athens: World Scientific, 2000. v. 2. p. 6871-6877. 1 CD-ROM.
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