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Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 25/04/2003
Data da última atualização: | 22/07/2010
Autoria: | LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P.
Afiliação: | Universidade de São Paulo, São Carlos, SP.; Embrapa Instrumentação Agropecuária, São Carlos, SP.
Título: | Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM).
Ano de publicação: | 2003
Fonte/Imprenta: | Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A.
Idioma: | Português
Notas: | CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f.  1 CD-ROM.
Conteúdo: | The formation of water film on surface of materials, mainly in the soil minerals, is a important feature because it is related with many physical, chemical and biological processes occurrin in soils. One of the main properties involved is the capillary phenomenon, which is related to the interaction of the van der Waals force. The investigation of this property, in the nanoscale, introduces a new concept to characterize the dynamic of the aggregate, whic is normally observed in the micrometer and macro scale.
Palavras-Chave: | AFM; Microscopia de força atômica; Water film.
Thesaurus Nal: | soil minerals.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (7446-1) - UPC - AP - -- - PROCI-03.00009 -  - 2003.00009 - DIS