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 | Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Cerrados. Para informações adicionais entre em contato com cpac.biblioteca@embrapa.br. |
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Registro Completo |
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Biblioteca(s): |
Embrapa Cerrados. |
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Data corrente: |
15/03/2016 |
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Data da última atualização: |
28/04/2016 |
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Tipo da produção científica: |
Resumo em Anais de Congresso |
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Autoria: |
FERREIRA, C. C.; CASTRO, A. P. G. de; PEIXOTO, J. R.; FALEIRO, F. G.; PIRES, M. de C.; VILELA, M. S.; JUNQUEIRA, N. T. V. |
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Afiliação: |
FABIO GELAPE FALEIRO, CPAC; NILTON TADEU VILELA JUNQUEIRA, CPAC. |
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Título: |
Resistência de progênies de maracujazeiro azedo à verrugose, em condições de campo. |
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Ano de publicação: |
2015 |
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Fonte/Imprenta: |
In: CONGRESSO BRASILEIRO DE MELHORAMENTO DE PLANTAS, 8., 2015, Goiânia. O melhoramento de plantas, o futuro da agricultura e a soberania nacional: anais. Goiânia: UFG: SBMP, 2015. |
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Idioma: |
Português |
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Palavras-Chave: |
Passiflora edulis Sims; Septoria passiflora. |
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Thesaurus Nal: |
Cladosporium herbarum. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Cerrados (CPAC) |
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Biblioteca |
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Tipo/Formato |
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Registro |
Volume |
Status |
URL |
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Registro Completo
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
23/03/2005 |
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Data da última atualização: |
23/03/2005 |
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Autoria: |
LEITE, F. L.; RIUL JÚNIOR, A.; HERRMANN, P. S. P. |
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Título: |
Mapping of adhesion forces on soil minerals in air and water by atomic force spectroscopy (AFS). |
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Ano de publicação: |
2003 |
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Fonte/Imprenta: |
Journal of adhesion Science and Technology, v. 17, n. 16, p. 2141-2156, 2003. |
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Idioma: |
Inglês |
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Conteúdo: |
The adhesion force between an atomic force microscope (AFM) tip and sample surfaces, mica and quartz substrates, was measured in air and water. The force curves show that the adhesion has a strong dependence on both the surface roughness and the environmental conditions surrounding the sample. The variability of the adhesion force was examined in a series of measurements taken at the same point, as well as at different places on the sample surface. The adhesion maps obtained from the distribution of the measured forces indicated regions contaminated by either organic compounds or adsorbed water. Using simple mathematical expressions we could quantitatively predict the adhesion force behavior in both air and water. The experimental results are in good agreement with theoretical calculations, where the adhesion forces in air and water were mostly associated with capillary and van der Waals forces, respectively. A smalllong-range repulsive force is also observed in water due to the overlapping electrical double-layers formed on both the tip and sample surfaces. |
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Palavras-Chave: |
Forças de Adesão; Microscopia de Força Atômica; Minerais do Solo; Spectroscopia de Força Atômica. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
LEADER 01702naa a2200193 a 4500
001 1028873
005 2005-03-23
008 2003 bl --- 0-- u #d
100 1 $aLEITE, F. L.
245 $aMapping of adhesion forces on soil minerals in air and water by atomic force spectroscopy (AFS).
260 $c2003
520 $aThe adhesion force between an atomic force microscope (AFM) tip and sample surfaces, mica and quartz substrates, was measured in air and water. The force curves show that the adhesion has a strong dependence on both the surface roughness and the environmental conditions surrounding the sample. The variability of the adhesion force was examined in a series of measurements taken at the same point, as well as at different places on the sample surface. The adhesion maps obtained from the distribution of the measured forces indicated regions contaminated by either organic compounds or adsorbed water. Using simple mathematical expressions we could quantitatively predict the adhesion force behavior in both air and water. The experimental results are in good agreement with theoretical calculations, where the adhesion forces in air and water were mostly associated with capillary and van der Waals forces, respectively. A smalllong-range repulsive force is also observed in water due to the overlapping electrical double-layers formed on both the tip and sample surfaces.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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