|
|
Registros recuperados : 166 | |
7. | | HERRMANN, P. S. P.; CRUVINEL, P. E. Balanca eletronica digital para fins agronomicos. In: REUNIAO ANUAL DA SBPC, 37., 1985, Belo Horizonte, MG. Ciencia e Cultura, Sao Paulo, v.37, n.7, p.25, jul. 1985. Suplemento. Resumos. ref.02-A.5.2. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
| |
10. | | LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
| |
15. | | HERRMANN, P. S. P.; VAZ, C. M. P.; CRESTANA, S. Caracterização na escala nanométrica, de caolinita, através da microscopia de varredura por força. In: REUNIÃO BRASILEIRA DE MANEJO E CONSERVAÇÃO DO SOLO E DA ÁGUA, 13., 2000, Ilhéus, BA. 500 anos de uso do solo no Brasil. Ilhéus: CEPLAC: CEPEC, 2000. p. 290-291. 1 CD-ROM. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
| |
18. | | ANTUNES, H. J.; CALBO, A. G.; HERRMANN, P. S. P. Investigation of the influence of the water vapor in the electric response of the conductive polymer used to developed disposable sensor using line patterning technique. In: ENCONTRO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE PESQUISA EM MATERIAIS - SbpMat, 6., 2007, Natal; BRAZILIAN MRS MEETING, 6., 2007, Natal. Abstracts... Natal: SBMat, 2007. 1 CD-ROM. Não paginado. Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
| |
Registros recuperados : 166 | |
|
|
| Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
26/08/2005 |
Data da última atualização: |
26/08/2005 |
Autoria: |
HERRMANN, P. S. P. |
Título: |
Aplicação de microscopia por varredura de sonda em mineralogia. |
Ano de publicação: |
2001 |
Fonte/Imprenta: |
In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CIENCIA DO SOLO, 28., 2001, Londrina. Ciência do solo: fator de produtividade competitiva com sustentabilidade. Resumos... Londrina: Sociedade Brasileira de Ciência do Solo, 2001. p. 35, ref. P-18. |
Idioma: |
Português |
Conteúdo: |
Investigações realizadas em superfície que possibilitam variar a faixa de escala de micrômetros à subnanometro, bem como a medida de forças ultra-baixa exercidas deviao a interação com a superfície utilizando a microscopia de força atômica. |
Palavras-Chave: |
Microscopia de Força Atômica; subnanometro. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
LEADER 00848naa a2200145 a 4500 001 1029033 005 2005-08-26 008 2001 bl --- 0-- u #d 100 1 $aHERRMANN, P. S. P. 245 $aAplicação de microscopia por varredura de sonda em mineralogia. 260 $c2001 520 $aInvestigações realizadas em superfície que possibilitam variar a faixa de escala de micrômetros à subnanometro, bem como a medida de forças ultra-baixa exercidas deviao a interação com a superfície utilizando a microscopia de força atômica. 653 $aMicroscopia de Força Atômica 653 $asubnanometro 773 $tIn: CONGRESSO BRASILEIRO DE CIENCIA DO SOLO, 28., 2001, Londrina. Ciência do solo: fator de produtividade competitiva com sustentabilidade. Resumos... Londrina: Sociedade Brasileira de Ciência do Solo, 2001. p. 35, ref. P-18.
Download
Esconder MarcMostrar Marc Completo |
Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
|
Biblioteca |
ID |
Origem |
Tipo/Formato |
Classificação |
Cutter |
Registro |
Volume |
Status |
Fechar
|
Nenhum registro encontrado para a expressão de busca informada. |
|
|