Data/hora: 03/06/2024 14:58:45

Biblioteca(s): 	Embrapa Solos.	
Data corrente: 	12/03/2010	
Data da última atualização: 	16/05/2024	
Autoria: 	CALDERANO, S. B.; DUARTE, M. N.; GREGORIS, G.	
Afiliação: 	SEBASTIAO BARREIROS CALDERANO, CNPS; MARIZA NASCIMENTO DUARTE, CNPS; GILSON GREGORIS, CNPS.	
Título: 	Análise mineralógica das frações finas do solo por difratometria de raios-X: revisão e atualização da metodologia e critérios usados na Embrapa Solos.	
Ano de publicação: 	2009	
Fonte/Imprenta: 	Rio de Janeiro: Embrapa Solos, 2009.	
Páginas: 	9 p.	
Descrição Física: 	il. color.	
Série: 	(Embrapa Solos. Comunicado técnico, 53).	
ISSN: 	1517-5685	
Idioma: 	Português	
Conteúdo: 	O presente trabalho é uma revisão e atualização dos procedimentos adotados pela Embrapa Solos, descritos em Embrapa (1997), para execução de análise mineralógica das frações finas do solo por meio da difratometria de raios-X.	
Palavras-Chave: 	Análise mineralógica; Difratometria; Raio-X.	
Categoria do assunto: 	P Recursos Naturais, Ciências Ambientais e da Terra	
URL: 	http://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/CNPS-2010/14631/1/comtec53-2009.pdf	
Registro original: 	Embrapa Solos (CNPS)	
Exemplares: 	CNPS - (14631-1) - UMT - FL - DD - CT 053 -  - 2009.00021 - DIS
CNPS - (14631-2) - UMT - FL - PP - FOL 3044 -  - 2009.00028 - DIS