Data/hora: 23/05/2024 13:31:01

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	29/04/2003	
Data da última atualização: 	29/04/2003	
Autoria: 	ASSIS, O. B. G.; BERNARDES-FILHO, R.; VIEIRA, D. C.; CAMPANA FILHO, S. P.	
Afiliação: 	Embrapa Instrumentação Agropecuária, São Carlos, SP; USP-Interunidades de Ciência e Engenharia de Materiais, São Carlos, SP; USP-Instituto de Química de São Carlos, São Carlos, SP.	
Título: 	AFM characterization of chitosan self-assembled films.	
Ano de publicação: 	2002	
Fonte/Imprenta: 	International Journal of Polymeric Materials, London, v. 51, n. 7, p. 633-638, Jul. 2002.	
Idioma: 	Inglês	
Conteúdo: 	Atomic force microscopy (AFM) was used to examine the surface structure of self-assbled films obtained from water-soluble chitasan rich solution precursor. The film war supported onto functionalized glass slides resulting in a mountain-and=valley structure. This feature is attributed as resulting of the experimental condition where agglomeration of molecules in solution may occur. The film height does not exceed 20nm with medium pore size of approximately 12 nm. This range of porosity is suitable for nanofiltration applications.	
Palavras-Chave: 	AFM; Microscopia de força atômica; Self-assmbled; Surface characterization; Thin-film.	
Thesaurus Nal: 	chitosan.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (7474-1) - UPC - SP - -- - PROCI-02.00028 - ASS - 02.0000028 - DIS