Data/hora: 23/09/2024 05:49:50

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	29/03/2006	
Data da última atualização: 	29/03/2006	
Autoria: 	ASSIS, O. B. G.; BERNARDES-FILHO, R.; PESSOA, J. D. C.	
Título: 	The surface roughness assessment: a comparison between AFM and SEM profile lines.	
Ano de publicação: 	1998	
Fonte/Imprenta: 	In: INTERNATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY=MEMORIAS DEL CONGRESO INTERNACIONAL DE MICROSCOPÍA ELETRÓNICA-ICEM, 14., 1998, Cancún. Electron microscopy 1998: paper presented... Bristol: Institute of Physics Publshing, 1998. v.3, p. 703-704. Edited by: Héctor A. Calderón Benavides, Miguel José Yacamán.	
Idioma: 	Inglês	
Conteúdo: 	The ability to visualize and quantify surface roughness is fundamental in understanding how to process materials with improved performance since surface conditions govern a great range of engineering materials properties. For such assessment, the most widely used measuring instrument isthe mechanical profilometer.	
Palavras-Chave: 	AFM; Atomic Force Microscope; Scanning Electron Microscope; Scanning Probe Microscope; SEM; SPM.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (9683-1) - UPC - SP - -- - PROCI-98.00004 -  - 1998.00004 - DIS