Data/hora: 13/06/2024 13:56:54

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 10/03/2005
Data da última atualização: | 10/03/2005
Autoria: | BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C.
Título: | Microscopia de força atômica.
Ano de publicação: | 2004
Fonte/Imprenta: | In: CANEVAROLO JR., S.V. (coord). Técnicas de caracterização de polímeros. São Paulo: Artliber, 2004. cap. 10, p. 201-207.
Idioma: | Português
Conteúdo: | O uso de diferentes técnicas de microscopia de força atômica tem propiciado avanços substantivos no estudo de polímeros, devido, principalmente, à possibilidade de se realizar medidas sem necessidade de recobrimento com metal ou uso do vácuo, o que reduz significativamente as alterações decorrentes destes métodos de preparação de amostras. Desta forma a microscopia de força atômica possibilita o estudo das superfícies de polímeros com resolução superior à obtida com a microscopia de varredura eletrônica, além de propiciar a obtenção de dados adicionais, como força magnética, força elétrica, rugosidade e dados tribológicos. Neste capítulo, serão apresentados os fundamentos da microscopia de força atômica, bem como exemplos de sua utilização no estudo de polímeros.
Palavras-Chave: | AFM; MFA; Microscopia de varredura de força; MVF; Nano-escala; SFM.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (8715-1) - UPC - SP - -- - PROCI-04.00164 -  - 2004.00164 - DIS