Data/hora: 21/09/2024 18:45:14

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	26/11/2009	
Data da última atualização: 	16/07/2013	
Autoria: 	PASCHOALIN, R. T.; MANZOLI, A.; STEFFENS, C.; ALVES, W. F.; HERRMANN, P. S. de P.	
Afiliação: 	PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA.	
Título: 	Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas.	
Ano de publicação: 	2009	
Fonte/Imprenta: 	In: SIMPÓSIO INTERNACIONAL DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA USP - SIICUSP, 17., 2009, São Carlos, SP. Anais.... São Carlos, SP: USP, 2009. 1 CD-ROM.	
Idioma: 	Português	
Palavras-Chave: 	CONGRESSO.	
Categoria do assunto: 	--	
URL: 	http://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/86138/1/Proci-09.00106.pdf	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (12291-1) - UPC - AA - PP - PROCI-09.00106 -  - 2009.00106 - DIS