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Biblioteca(s): |
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Data corrente: |
18/08/2004 |
Data da última atualização: |
09/04/2013 |
Tipo da produção científica: |
Documentos |
Autoria: |
REIS, V. D. A. dos. |
Afiliação: |
Embrapa Pantanal (Corumbá, MS). |
Título: |
Mel orgânico: oportunidades e desafios para a apicultura no Pantanal. |
Ano de publicação: |
2004 |
Fonte/Imprenta: |
Corumbá: Embrapa Pantanal, 2004. |
Páginas: |
26 p. |
Série: |
(Embrapa Pantanal. Documentos, 59). |
Idioma: |
Português |
Conteúdo: |
Fornece um panorama dos produtos organicos: diferencial de preco, legislacao brasileira, beneficios de certificacao, entidades certificadoras e financiamentos especiais. Caracteriza o Pantanal. Aborda o panorama da apicultura brasileira. Fornece a definicao, classificacoes, composicao e valor nutricional do mel. Conclui, mostrando as oportunidades e desafios da producao de mel organico no Pantanal. |
Palavras-Chave: |
Abelha africanizada; Abelhas africanizadas; Been; Brasil; Mel orgânico; Prodution. |
Thesagro: |
Abelha; Abelha Africana; Agricultura Orgânica; Apicultura; Mel; Produção. |
Thesaurus Nal: |
honey; Pantanal. |
Categoria do assunto: |
-- |
URL: |
https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/81130/1/DOC59.pdf
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Marc: |
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Embrapa Pantanal (CPAP) |
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URL |
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Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
10/03/2005 |
Data da última atualização: |
10/03/2005 |
Autoria: |
BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. |
Título: |
Microscopia de força atômica. |
Ano de publicação: |
2004 |
Fonte/Imprenta: |
In: CANEVAROLO JR., S.V. (coord). Técnicas de caracterização de polímeros. São Paulo: Artliber, 2004. cap. 10, p. 201-207. |
Idioma: |
Português |
Conteúdo: |
O uso de diferentes técnicas de microscopia de força atômica tem propiciado avanços substantivos no estudo de polímeros, devido, principalmente, à possibilidade de se realizar medidas sem necessidade de recobrimento com metal ou uso do vácuo, o que reduz significativamente as alterações decorrentes destes métodos de preparação de amostras. Desta forma a microscopia de força atômica possibilita o estudo das superfícies de polímeros com resolução superior à obtida com a microscopia de varredura eletrônica, além de propiciar a obtenção de dados adicionais, como força magnética, força elétrica, rugosidade e dados tribológicos. Neste capítulo, serão apresentados os fundamentos da microscopia de força atômica, bem como exemplos de sua utilização no estudo de polímeros.
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Palavras-Chave: |
AFM; MFA; Microscopia de varredura de força; MVF; Nano-escala; SFM. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
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Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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