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1.Imagem marcado/desmarcadoJASINEVICIUS, R. G.; HERMANN, P. S. P.; PORTO, A. J. V.; DUDUCH, J. G. Surface characterization of ductile regime diamond turned monocrystalline silicon through AFM and SEM: a brief comparison. Acta Microscopica, Caracas, v. 7, p. 453-456, Oct. 1998. Supplement A. Edição de Proceedings of the 6th Brazilian Conference on Microscopy of Materials - MICROMAT 98.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

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