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Registro Completo |
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
05/10/2018 |
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Data da última atualização: |
15/01/2019 |
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Tipo da produção científica: |
Artigo em Periódico Indexado |
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Autoria: |
TSENG, C. L.; ALVES, M. C.; CRESTANA, S. |
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Afiliação: |
SILVIO CRESTANA, CNPDIA. |
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Título: |
Quantifying physical and structural soil properties using X-ray microtomography. |
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Ano de publicação: |
2018 |
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Fonte/Imprenta: |
Geoderma, v. 318, p. 78-87, maio 2018. |
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ISSN: |
0016-7061 |
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DOI: |
10.1016/j.geoderma.2017.11.042 |
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Idioma: |
Inglês |
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Palavras-Chave: |
3D simulation; Degree of anisotropy; Euler-Poincaré number; Microtomography; S index; Shanoon entropy. |
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Categoria do assunto: |
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Marc: |
null
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
