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Registro Completo |
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
07/02/2006 |
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Data da última atualização: |
07/02/2006 |
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Autoria: |
LEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; HERMANN, P. S. P. |
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Título: |
Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS). |
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Ano de publicação: |
2005 |
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Fonte/Imprenta: |
Microsc Microanal, v.11 (supp.3), p.130-133, 2005. |
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Idioma: |
Inglês |
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Conteúdo: |
In this paper, we employ AFS to measure adhesion (pull-off force) between the AFM tip and two types of substrate. Adhesion maps are used to illustrate sample regions that had been contaminated with organic compounds. |
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Palavras-Chave: |
Adhesion forces; Atomic Force Spectroscopy. |
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Thesaurus Nal: |
roughness; van der Waals forces. |
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Categoria do assunto: |
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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Biblioteca |
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