Data/hora: 20/06/2024 04:06:27

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 01/02/2006
Data da última atualização: | 01/02/2006
Autoria: | SOUZA, A. L. de; LEITE, F. de L.; HERRMANN JUNIOR, P. S. P.; RODRIGUES FILHO, U. P.
Título: | Tailoring surfaces using aminoalkoxysilanes and phosphotungstic acid, characterized by the use of the atomic force microscopy.
Ano de publicação: | 2005
Fonte/Imprenta: | In: LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.
Idioma: | Inglês
Conteúdo: | In the earlier 80's the pioneer work of Sagiv has introduced the formation of self-assembly monolayer (SAM) with siloxane compounds [1], opening a whole new area for the application of these compounds. A wide variety of organosilanes has been used in the chemical modification of the surfaces aminopropyltriethoxysilane (APTS), N-(3-(trimethoxysilyl)-propyl)-ethylenodiamine (TSPEN) and their hybrid fulms with 12-tugstophosphoric acid on oxidized silicon wafer surface, SiO2/Si(100).
Palavras-Chave: | AFM; SAM; TSPEN.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (9373-1) - UPC - SP - -- - PROCI-05.00113 -  - 2005.00113 - DIS