Data/hora: 14/06/2024 03:59:44

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 26/11/2009
Data da última atualização: | 16/07/2013
Autoria: | PASCHOALIN, R. T.; MANZOLI, A.; STEFFENS, C.; ALVES, W. F.; HERRMANN, P. S. de P.
Afiliação: | PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA.
Título: | Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas.
Ano de publicação: | 2009
Fonte/Imprenta: | In: SIMPÓSIO INTERNACIONAL DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA USP - SIICUSP, 17., 2009, São Carlos, SP. Anais.... São Carlos, SP: USP, 2009. 1 CD-ROM.
Idioma: | Português
Palavras-Chave: | CONGRESSO.
Categoria do assunto: | --
URL: | http://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/86138/1/Proci-09.00106.pdf
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (12291-1) - UPC - AA - PP - PROCI-09.00106 -  - 2009.00106 - DIS