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BDPA - Bases de Dados da Pesquisa Agropecuária Embrapa
 






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1.Imagem marcado/desmarcadoIEZZI, G.; MURAKAMI, C.; MACHADO, N. J. Fundamentos de matemática elementar: limites, derivadas, noções de integral. São Paulo: Atual, 1977.

Biblioteca(s): Embrapa Roraima.

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2.Imagem marcado/desmarcadoHERMANN, P. S. P.; CARDOSO, L. P.; ALTAFIM, R. A. C.; MURAKAMI, C. R. Surface analysis with atomic force microscopy (AFM) of polyurethane resins derived from castor oil with filler. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE MICROSCOPIA DE MATERIAIS - MICROMAT, 7., 2000, São Pedro, SP. MICROMAT 2000: abstracts... São Carlos: [UFSCar], 2000. p. 16., ref. RE004-013.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

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3.Imagem marcado/desmarcadoALTAFIM, R. A.; MURAKAMI, C. R.; CRUVINEL, P. E.; NAIME, J. M.; CHIERICE, G. O.; MASCARENHAS, S. Computed X-ray tomography for analyzing polymer insulators. In: CONFERENCE ON ELECTRICAL INSULATION AND DIELECTRIC PHENOMENA-CEIDP, 2001, Kitchener. CEIDP 2000: Annual report. [S. l.]: IEEE Dielectrics and Insulation Society, 2001. p. 149-152. ref. 01ch37225.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

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4.Imagem marcado/desmarcadoMURAKAMI, C. R.; ALTAFIM, R. A. C.; BONOMO, A.; CRUVINEL, P. E.; CHIERICE, G. O.; AGNELLI, J. A. M. Study of pin-type polymeric electric insulators: manufacturing process, tomographic analyses and electrical and mechanical tests. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON PROPERTIES AND APPLICATIONS OF DIELECTRIC MATERIALS, 7., jun. 2003. Nagoya, Japan. Proceedings... Nagoya, 2003. ref. P4-34.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

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5.Imagem marcado/desmarcadoALTAFIM, R. A. C.; MURAKAMI, C. R.; HERRMANN, P. S. P.; NAIME, J. M.; CRUVINEL, P. E.; CARDOSO, L. P. Uma nova metodologia para análise dos materiais dielétricos usados em isoladores poliméricos. In: ENCONTRO REGIONAL LATINO AMERICANO DA CIGRÉ-ERLAC - ENCUENTRO REGIONAL LATINO AMERICANO DEL CIGRÉ, 9., 2001, Foz do Iguaçu. IX Erlac: anais. [Foz do iguaçu]: Cigré, 2001. 5 f. 1 CD-ROM.

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1.Imagem marcado/desmarcadoHERMANN, P. S. P.; CARDOSO, L. P.; ALTAFIM, R. A. C.; MURAKAMI, C. R. Surface analysis with atomic force microscopy (AFM) of polyurethane resins derived from castor oil with filler. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE MICROSCOPIA DE MATERIAIS - MICROMAT, 7., 2000, São Pedro, SP. MICROMAT 2000: abstracts... São Carlos: [UFSCar], 2000. p. 16., ref. RE004-013.
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3.Imagem marcado/desmarcadoMURAKAMI, C. R.; ALTAFIM, R. A. C.; BONOMO, A.; CRUVINEL, P. E.; CHIERICE, G. O.; AGNELLI, J. A. M. Study of pin-type polymeric electric insulators: manufacturing process, tomographic analyses and electrical and mechanical tests. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON PROPERTIES AND APPLICATIONS OF DIELECTRIC MATERIALS, 7., jun. 2003. Nagoya, Japan. Proceedings... Nagoya, 2003. ref. P4-34.
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