Registro Completo |
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
27/04/2011 |
Data da última atualização: |
27/04/2011 |
Autoria: |
MORITA, S.; WIESENDANGER, R.; MEYER, E. (ed.). |
Título: |
Noncontact atomic force microscopy. |
Ano de publicação: |
2002 |
Fonte/Imprenta: |
Berlin: Springer, c2002. 439 p. |
Série: |
(Nanoscience and technology). |
ISBN: |
9783540431176 |
Idioma: |
Inglês |
Palavras-Chave: |
Métodos de não contato; Microscopia de força atômica; Nanotecnologia. |
Thesagro: |
Microscopia. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
LEADER 00537nam a2200193 a 4500 001 1886967 005 2011-04-27 008 2002 bl uuuu 00u1 u #d 020 $a9783540431176 100 1 $aMORITA, S. 245 $aNoncontact atomic force microscopy. 260 $aBerlin: Springer, c2002. 439 p.$c2002 490 $a(Nanoscience and technology). 650 $aMicroscopia 653 $aMétodos de não contato 653 $aMicroscopia de força atômica 653 $aNanotecnologia 700 1 $aWIESENDANGER, R. 700 1 $aMEYER, E.
Download
Esconder MarcMostrar Marc Completo |
Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |