Data/hora: 04/06/2024 15:28:43

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 22/03/2006
Data da última atualização: | 22/03/2006
Autoria: | PATERNO, L. G.; MATTOSO, L. H. C.
Título: | Morphological characterization of conductive poly(o-ethoxyaniline) and sulfonated lignin self-assembled films by atomic force microscopy.
Ano de publicação: | 1999
Fonte/Imprenta: | In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON SCANNING PROBE MICROSCOPY OF POLYMERS, 1., 1999, Santa Barbara. Abstract book and program... Santa Barbara: University of California, 1999. Não-paginado, ref. P55.
Idioma: | Inglês
Conteúdo: | In this work, atomic force microscopy (AFM) was employed to investigate the morphology of poly(o-ethoxyaniline)/ sulfonated lignin self-assembled films. Images of films surface were obtained on each deposited layer, by AFM on the tapping mode.
Palavras-Chave: | AFM; Imagem; Poly(o-ethoxyaniline); Ultra-thin films.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (9640-1) - UPC - SP - -- - PROCI-99.00122 -  - 1999.00122 - DIS