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Registro Completo |
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
10/04/2008 |
Data da última atualização: |
10/04/2008 |
Autoria: |
HOMEM, M. R. P.; MASCARENHAS, N. D. A.; CRUVINEL, P. E. |
Título: |
Um método para identificação de materiais em ciência de solos por múltiplas energias em CT de transmissão e por técnicas de classificação estatística multivariada. |
Ano de publicação: |
2000 |
Fonte/Imprenta: |
In: SIMPÓSIO NACIONAL DE INSTRUMENTAÇÃO AGROPECUÁRIA, 2., 1998, São Carlos. Anais do II SIAGRO. São Carlos: Embrapa Instrumentação Agropecuária, 2000. p. 176-185. Editores: Paulo Estevão Cruvinel, Luiz Alberto Colnago, André Torre-Neto. |
Idioma: |
Português |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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Biblioteca |
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Origem |
Tipo/Formato |
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Volume |
Status |
URL |
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Registros recuperados : 15 | |
3. | ![Imagem marcado/desmarcado](/consulta/web/img/desmarcado.png) | MASCARENHAS, N. D. A.; SAITO, J. H.; FURUYA, N.; MOREIRA, J.; CRUVINEL, P. E. Atividades do grupo de arquiteturas, processamento de imagens e sinais da Universidade Federal de São Carlos, Brasil. In: GRAU, A. (Ed.). Pattern recognition advances in iberoamerica: foro 2000: foro iberoamericano de reconocimiento de formas y analysis de imagenes, 2000, Barcelona. Barcelona: Technical University of Catalonia-Automatic Control Department, 2000. p. 111-122.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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7. | ![Imagem marcado/desmarcado](/consulta/web/img/desmarcado.png) | MASCARENHAS, N. D. A.; SOUZA, I. A.; CRUVINEL, P. E.; BISCEGLI, C. I.; ROSA, R. R. An estimation theoretic approach to 3-D image interpolation. In: BRAZILIAN SYMPOSIUM ON COMPUTER GRAPHYCS AND IMAGE PROCESSING-SIBGRAPI, 13., 2000, Gramado. Proceedings... Los Alamitos: IEEE Computer Society, 2000. p. 163-169. Edited by Paulo Cezar Carvalho, Marcelo Walter.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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10. | ![Imagem marcado/desmarcado](/consulta/web/img/desmarcado.png) | HOMEM, M. R. P.; MASCARENHAS, N. D. A.; CRUVINEL, P. E. A method for nondestructive testing using multiple energy CT and statistical pattern classification. In: ANNUAL MEETING AND EXHIBITION, 44., 1999, Denver, Colorado, USA. Proceedings... Denver, Colorado: SPIE, 1999.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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