Data/hora: 23/06/2024 13:28:38

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	29/06/2012	
Data da última atualização: 	12/09/2018	
Autoria: 	STEFFENS, C.; LEITE, F. L.; BUENO, C. C.; MANZOLI, A.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P.	
Afiliação: 	PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA.	
Título: 	Atomic force microscopy as a tool applied to nano/biosensors.	
Ano de publicação: 	2012	
Fonte/Imprenta: 	Sensors, Basel, v. 12, p. 8278-8300, 2012.	
ISSN: 	1424-8220	
DOI: 	10.3390/s120608278	
Idioma: 	Inglês	
Palavras-Chave: 	Atomic force spectroscopy; Nanosensors; Nanotecnology.	
Thesaurus Nal: 	Atomic force microscopy.	
Categoria do assunto: 	--	
URL: 	http://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/182750/1/Atomic-force-microscopy-as-a-tool-applied-to-nano-biosensors..pdf	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (13922-1) - UPC - AP - DD - PROCI-12.00019 -  - 2012.00019 - DIS