Data/hora: 24/06/2024 17:21:32

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	26/08/2005	
Data da última atualização: 	26/08/2005	
Autoria: 	HERRMANN, P. S. P.	
Título: 	Aplicação de microscopia por varredura de sonda em mineralogia.	
Ano de publicação: 	2001	
Fonte/Imprenta: 	In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CIENCIA DO SOLO, 28., 2001, Londrina. Ciência do solo: fator de produtividade competitiva com sustentabilidade. Resumos... Londrina: Sociedade Brasileira de Ciência do Solo, 2001. p. 35, ref. P-18.	
Idioma: 	Português	
Conteúdo: 	Investigações realizadas em superfície que possibilitam variar a faixa de escala de micrômetros à subnanometro, bem como a medida de forças ultra-baixa exercidas deviao a interação com a superfície utilizando a microscopia de força atômica.	
Palavras-Chave: 	Microscopia de Força Atômica; subnanometro.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (8929-1) - UPC - SP - -- - PROCI-01.00024 -  - 2001.00024 - DIS