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Registro Completo |
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
20/01/2006 |
Data da última atualização: |
20/01/2006 |
Autoria: |
LEITE, F. L.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN, P. S. P.; FROMMER, J. E.; MATTOSO, L. H. |
Título: |
Atomic force spectroscopy as a tool to study thin film og conductive polymer in solution with different pHs. |
Ano de publicação: |
2005 |
Fonte/Imprenta: |
LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM. |
Idioma: |
Inglês |
Conteúdo: |
An AFM has been used as force spectrometer to analyze repulsive and atractive forces generated in solution on polyaniline and poly(o-ethoxyaniline) films in different pHs. |
Palavras-Chave: |
Atomic force spectroscopy; LBL/ Layer-by-lyer films; PANI; POEA. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
LEADER 00921naa a2200229 a 4500 001 1029274 005 2006-01-20 008 2005 bl --- 0-- u #d 100 1 $aLEITE, F. L. 245 $aAtomic force spectroscopy as a tool to study thin film og conductive polymer in solution with different pHs. 260 $c2005 520 $aAn AFM has been used as force spectrometer to analyze repulsive and atractive forces generated in solution on polyaniline and poly(o-ethoxyaniline) films in different pHs. 653 $aAtomic force spectroscopy 653 $aLBL/ Layer-by-lyer films 653 $aPANI 653 $aPOEA 700 1 $aBORATO, C. E. 700 1 $aOLIVEIRA, O. N. 700 1 $aHERRMANN, P. S. P. 700 1 $aFROMMER, J. E. 700 1 $aMATTOSO, L. H. 773 $tLATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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Biblioteca |
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Origem |
Tipo/Formato |
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Registro |
Volume |
Status |
URL |
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Registros recuperados : 8 | |
3. | | HERRMANN, P. S. P.; COLNAGO, L. A.; MATTOSO, L. H. C.; FROMMER, J. E. Non random nucleation and growth of self-assembled (SA) bioolymers studied by AFM. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON SCANNING PROBE MICROSCOPY OF POLYMERS, 1., 1999, Santa Barbara, CA. Abstract book and program... Santa Barbara: University of California, 1999. Não paginado, ref. P29.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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6. | | LEITE, F. L.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN, P. S. P.; FROMMER, J. E.; MATTOSO, L. H. Atomic force spectroscopy as a tool to study thin film og conductive polymer in solution with different pHs. LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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7. | | MATTOSO, L. H. C.; HERRMANN, P. S. P.; JOB, A. E.; COLNAGO, L. A.; BERNARDES, R.; SILVA, M. de A. P. da; FROMMER, J. E. Microscopia de força atômica aplicada a polímeros. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE POLÍMEROS, 4., set.-out. 1997, Salvador, BA. Anais... São Carlos: Associação Brasileira de Polímeros, 1997. p.355-356.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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8. | | HERRMANN, P. S. P.; SILVA, M. A. P. da; BERNARDES FILHO, R.; JOB. A. E.; COLNAGO, L. A.; FROMMER, J. E.; MATTOSO, L. H. C. Microscopia de varredura por força: uma ferramenta poderosa no estudo de polímeros. Polímeros: ciência e tecnologia, São Carlos, SP, v. 7, n. 4, p. 51-61, 1997.Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação. |
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Registros recuperados : 8 | |
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