Data/hora: 22/06/2024 17:21:44

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 13/09/2005
Data da última atualização: | 13/09/2005
Autoria: | MARTIN, A. R.; TORIZ, G. G.; MANOLACHE, S.; DENES, F.; MATTOSO, L. H. C.
Título: | AFM characterization of sisal fibers modified by cold plasma chemistry.
Ano de publicação: | 2001
Fonte/Imprenta: | Acta Microscopica, Maracaibo, v. 10, p. 68-73. abr 2001. Supplement 1. Proceedings of The First Latin American Symposium on Scanning Microscopy, São Pedro, SP, april, 2001.
Idioma: | Inglês
Conteúdo: | Atomic Force Microscopy (AFM) can be successfully used to quantify the surface roughness of sisal fibers treated under dichlorosilane (DS) cold plasma conditions.
Palavras-Chave: | Fibras de Sisal; Microscopia de força atômica; Plasma frio.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (8971-1) - UPC - SP - -- - PROCI-01.00066 -  - 2001.00066 - DIS