Data/hora: 17/06/2024 08:14:36

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	26/11/2009	
Data da última atualização: 	27/09/2013	
Autoria: 	TEZUKA, É. S.; CRUVINEL, P. E.	
Afiliação: 	PAULO ESTEVAO CRUVINEL, CNPDIA.	
Título: 	Identificação de defeitos em bananas através do mapeamento do áreas de risco utilizando análise de textura e visão computacional.	
Ano de publicação: 	2009	
Fonte/Imprenta: 	In: CONGRESSO BRASILEIRO DE AGROINFORMÁTICA - SIBIAgro, 7., 2009, Viçosa, MG. Anais.... Viçosa, MG: UFV, 2009. 1 CD-ROM.	
Idioma: 	Português	
Palavras-Chave: 	CONGRESSO.	
Categoria do assunto: 	--	
URL: 	http://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/86139/1/Proci-09.00105.pdf	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (12289-1) - UPC - AA - PP - PROCI-09.00105 -  - 2009.00105 - DIS