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Registro Completo |
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Biblioteca(s): |
Embrapa Arroz e Feijão; Embrapa Milho e Sorgo. |
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Data corrente: |
26/12/2013 |
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Data da última atualização: |
11/07/2014 |
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Tipo da produção científica: |
Artigo em Anais de Congresso |
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Autoria: |
MELO, L. C.; COSTA, J. G. C. da; PEREIRA, H. S.; DEL PELOSO, M. J.; WENDLAND, A.; FARIA, L. C. de; NASCENTE, A. S.; CABRERA DIAZ, J. L.; CARVALHO, H. W. L. de; COSTA, A. F. da; ALMEIDA, V. M. de; MELO, C. L. P. de; MAGALDI, M. C. de S.; ABREU, A. de F. B.; MOREIRA, J. A. A.; PEREIRA FILHO, I. A.; CARGNIN, A.; POSSE, S. C. P.; SOUZA FILHO, B. F. de; MOURA NETO, F. P.; SOUZA, J. F.; GUIMARÃES, C. M.; BRAZ, A. J. B. P.; FERREIRA, S. B.; MARANGON, M. A.; SOUZA, N. P. de; OLIVEIRA, J. P. de; FARIA, J. C. de; BASSINELLO, P. Z.; VIANELLO, R. P. |
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Afiliação: |
LEONARDO CUNHA MELO, CNPAF; JOAQUIM GERALDO CAPRIO DA COSTA, CNPAF; HELTON SANTOS PEREIRA, CNPAF; MARIA JOSE DEL PELOSO, CNPAF; ADRIANE WENDLAND FERREIRA, CNPAF; LUIS CLAUDIO DE FARIA, CNPAF; ADRIANO STEPHAN NASCENTE, CNPAF; JOSE LUIS CABRERA DIAZ, CNPAF; HELIO WILSON LEMOS DE CARVALHO, CPATC; ANTONIO FELIX DA COSTA, IPA; VALTER MARTINS DE ALMEIDA, EMPAER; CARLOS LASARO PEREIRA DE MELO, CPAO; MARIANA CRUZICK DE S MAGALDI, CNPAF; ANGELA DE FATIMA BARBOSA ABREU, CNPAF; JOSE ALOISIO ALVES MOREIRA, CNPMS; ISRAEL ALEXANDRE PEREIRA FILHO, CNPMS; ADELIANO CARGNIN, CNPT; SHEILA CRISTINA PRUCOLI POSSE, INCAPER; BENEDITO FERNANDES DE SOUZA FILHO, PESAGRO-RIO; FRANCISCO PEREIRA MOURA NETO, CNPAF; JUAREZ FERNANDES SOUZA, FEPAGRO; CLEBER MORAIS GUIMARAES, CNPAF; ANTONIO JOAQUIM BRAGA PEREIRA BRAZ, FESURV; SIMONE BORGES FERREIRA, EMATER-GO; MARCOS AURELIO MARANGON, SPM Canoinhas; NILDA PESSOA DE SOUZA, CNPAF; JAISON PEREIRA DE OLIVEIRA, CNPAF; JOSIAS CORREA DE FARIA, CNPAF; PRISCILA ZACZUK BASSINELLO, CNPAF; ROSANA PEREIRA VIANELLO, CNPAF. |
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Título: |
BRS Ametista: cultivar de feijoeiro-comum carioca com grãos graúdos e resistência a doenças. |
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Ano de publicação: |
2013 |
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Fonte/Imprenta: |
In: CONGRESSO BRASILEIRO DE MELHORAMENTO DE PLANTAS, 7., 2013, Uberlândia. Variedade melhorada: a força da nossa agricultura: anais. Viçosa, MG: SBMP, 2013. |
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Páginas: |
p. 1662-1666. |
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Idioma: |
Português |
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Conteúdo: |
BRS Ametista é uma cultivar de feijoeiro comum tipo carioca, ciclo normal, produtividade média semelhante a cultivar Pérola e grãos com tamanho superior, resistência à antracnose, murcha de fusário e crestamento bacteriano comum. Essa cultivar está recomendada para semeadura em 18 Estados de todas as regiões brasileiras, correspondendo a mais de 95% da área plantada com feijão no Brasil. |
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Thesagro: |
Feijão; Melhoramento genético vegetal; Phaseolus vulgaris; Variedade resistente. |
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Thesaurus Nal: |
Beans; Varieties. |
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Categoria do assunto: |
G Melhoramento Genético |
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URL: |
https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/96013/1/BRS-Ametista.pdf
https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/94585/1/BRS-Ametista.pdf
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Arroz e Feijão (CNPAF) |
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Biblioteca |
ID |
Origem |
Tipo/Formato |
Classificação |
Cutter |
Registro |
Volume |
Status |
URL |
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 | Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
29/03/2006 |
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Data da última atualização: |
29/03/2006 |
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Autoria: |
ASSIS, O. B. G.; BERNARDES-FILHO, R.; PESSOA, J. D. C. |
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Título: |
The surface roughness assessment: a comparison between AFM and SEM profile lines. |
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Ano de publicação: |
1998 |
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Fonte/Imprenta: |
In: INTERNATIONAL CONGRESS ON ELECTRON MICROSCOPY=MEMORIAS DEL CONGRESO INTERNACIONAL DE MICROSCOPÍA ELETRÓNICA-ICEM, 14., 1998, Cancún. Electron microscopy 1998: paper presented... Bristol: Institute of Physics Publshing, 1998. v.3, p. 703-704. Edited by: Héctor A. Calderón Benavides, Miguel José Yacamán. |
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Idioma: |
Inglês |
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Conteúdo: |
The ability to visualize and quantify surface roughness is fundamental in understanding how to process materials with improved performance since surface conditions govern a great range of engineering materials properties. For such assessment, the most widely used measuring instrument isthe mechanical profilometer. |
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Palavras-Chave: |
AFM; Atomic Force Microscope; Scanning Electron Microscope; Scanning Probe Microscope; SEM; SPM. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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