Data/hora: 23/06/2024 13:47:28

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 29/06/2012
Data da última atualização: | 12/09/2018
Autoria: | STEFFENS, C.; LEITE, F. L.; BUENO, C. C.; MANZOLI, A.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P.
Afiliação: | PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA.
Título: | Atomic force microscopy as a tool applied to nano/biosensors.
Ano de publicação: | 2012
Fonte/Imprenta: | Sensors, Basel, v. 12, p. 8278-8300, 2012.
ISSN: | 1424-8220
DOI: | 10.3390/s120608278
Idioma: | Inglês
Palavras-Chave: | Atomic force spectroscopy; Nanosensors; Nanotecnology.
Thesaurus Nal: | Atomic force microscopy.
Categoria do assunto: | --
URL: | http://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/item/182750/1/Atomic-force-microscopy-as-a-tool-applied-to-nano-biosensors..pdf
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (13922-1) - UPC - AP - DD - PROCI-12.00019 -  - 2012.00019 - DIS