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Registro Completo |
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Biblioteca(s): |
Embrapa Semiárido. |
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Data corrente: |
14/07/2009 |
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Data da última atualização: |
08/08/2019 |
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Tipo da produção científica: |
Resumo em Anais de Congresso |
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Autoria: |
SOUZA, A. V. de; BERTONI, B. W.; FRANÇA, S. de C.; PEREIRA, A. M. S. |
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Afiliação: |
ANA VALERIA VIEIRA DE SOUZA, CPATSA; Bianca Waléria Bertoni, UNAERP; Suzelei de Castro França, UNAERP; Ana Maria S. Pereira, UNAERP. |
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Título: |
Enraizamento in vitro de catuaba (Anemopaegma arvense ) (Vell.) Stell. ex de Souza. |
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Ano de publicação: |
2009 |
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Fonte/Imprenta: |
In: CONGRESSO NACIONAL DE BOTÂNICA, 60.; REUNIÃO NORDESTINA DE BOTÂNICA, 32.; ERBOT - ENCONTRO REGIONAL DE BOTÂNICOS - MG, BA , ES, 29., 2009, Feira de Santana. Botânica brasileira: futuro e compromissos. Feira de Santana: SBB: UEFS, 2009. |
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Descrição Física: |
1 CD-ROM. |
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Idioma: |
Português |
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Conteúdo: |
Este trabalho teve como objetivo avaliar os efeitos de diferentes concentrações e tipos de poliaminas e diferentes concentrações de dithiothreitol (DTT) no enraizamento in vitro de A. Arvense. |
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Palavras-Chave: |
Catuaba; Extinção; Poliaminas. |
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Thesagro: |
Planta Medicinal. |
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Categoria do assunto: |
P Recursos Naturais, Ciências Ambientais e da Terra |
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URL: |
https://ainfo.cnptia.embrapa.br/digital/bitstream/CPATSA-2009-09/40955/1/OPB2328.pdf
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Marc: |
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Registro original: |
Embrapa Semiárido (CPATSA) |
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Biblioteca |
ID |
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Tipo/Formato |
Classificação |
Cutter |
Registro |
Volume |
Status |
URL |
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 | Acesso ao texto completo restrito à biblioteca da Embrapa Instrumentação. Para informações adicionais entre em contato com cnpdia.biblioteca@embrapa.br. |
Registro Completo
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Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
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Data corrente: |
07/02/2006 |
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Data da última atualização: |
07/02/2006 |
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Autoria: |
LEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; HERMANN, P. S. P. |
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Título: |
Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS). |
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Ano de publicação: |
2005 |
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Fonte/Imprenta: |
Microsc Microanal, v.11 (supp.3), p.130-133, 2005. |
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Idioma: |
Inglês |
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Conteúdo: |
In this paper, we employ AFS to measure adhesion (pull-off force) between the AFM tip and two types of substrate. Adhesion maps are used to illustrate sample regions that had been contaminated with organic compounds. |
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Palavras-Chave: |
Adhesion forces; Atomic Force Spectroscopy. |
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Thesaurus NAL: |
roughness; van der Waals forces. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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Marc: |
LEADER 00826naa a2200205 a 4500
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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