Data/hora: 23/09/2024 04:47:18

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	09/04/2007	
Data da última atualização: 	09/04/2007	
Autoria: 	BERNARDES FILHO, R.; ASSIS, O. B. G.; PESSOA, J. D. C.	
Título: 	Relação entre parâmetros de rugosidade obtidos por microscopia de força atômica e por microscopia eletrônica de varredura.	
Ano de publicação: 	1998	
Fonte/Imprenta: 	Revista brasileira de aplicações de vácuo, Campinas, v. 17, n. 2, p. 3-7, 1998.	
Idioma: 	Português	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (10265-1) - UPC - SP - -- - PROCI-98.00103 -  - 1998.00103 - DIS