Data/hora: 25/05/2024 06:53:20

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	10/03/2005	
Data da última atualização: 	10/03/2005	
Autoria: 	BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C.	
Título: 	Microscopia de força atômica.	
Ano de publicação: 	2004	
Fonte/Imprenta: 	In: CANEVAROLO JR., S.V. (coord). Técnicas de caracterização de polímeros. São Paulo: Artliber, 2004. cap. 10, p. 201-207.	
Idioma: 	Português	
Conteúdo: 	O uso de diferentes técnicas de microscopia de força atômica tem propiciado avanços substantivos no estudo de polímeros, devido, principalmente, à possibilidade de se realizar medidas sem necessidade de recobrimento com metal ou uso do vácuo, o que reduz significativamente as alterações decorrentes destes métodos de preparação de amostras. Desta forma a microscopia de força atômica possibilita o estudo das superfícies de polímeros com resolução superior à obtida com a microscopia de varredura eletrônica, além de propiciar a obtenção de dados adicionais, como força magnética, força elétrica, rugosidade e dados tribológicos. Neste capítulo, serão apresentados os fundamentos da microscopia de força atômica, bem como exemplos de sua utilização no estudo de polímeros. 

Palavras-Chave: 	AFM; MFA; Microscopia de varredura de força; MVF; Nano-escala; SFM.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (8715-1) - UPC - SP - -- - PROCI-04.00164 -  - 2004.00164 - DIS