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Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 22/12/1999
Data da última atualização: | 22/12/1999
Autoria: | BERNARDES FILHO, R.; PESSOA, J. D. C.; ASSIS, O. B. G.
Afiliação: | EMBRAPA-CNPDIA.
Título: | Caracterização da superfície de uma cerâmica por microscopia de força atômica.
Ano de publicação: | 1997
Fonte/Imprenta: | In: CONGRESSO BRASILEIRO DE SISTEMAS PARTICULADOS (XXV ENEMP), 25., out. 1997, Sao Carlos, SP. Programacao e resumos... Sao Carlos: UFSCar/DEQ, 1997.
Páginas: | p. PII-2.
Idioma: | Português
Conteúdo: | Neste trabalho analisamos amostra de uma ceramica comercial porosa de alumina (Al2O3), virgem e debastada, utilizada para medicao de potencial matrico do solo em camara de Richard. Foi utilizado microscopio de forca atomica, modelo Discovery TMX 2010 - Topometrix, para medir a rugosidade da superficie e caracterizar microestruturas superficiais. Foram feitas varreduras abrangendo areas de 5 e 10 micrometros contendo 500x500 pontos, com dois tipos de agulhas piramidais de Si3N4, uma com ponta de raio de 50nm e outra denominada "super-tip" com raio de 20nm. As amostras foram varridas com frequencias que variaram de 0,5 a 2Hz, dependendo da topografia da regiao e da agulha utilizada. Os artefatos de imagens identificados foram utilizados para avaliar o tamanho e forma dos poros da ceramica. A partir de processos de tratamento de imagens foi possivel identificar as regioes dos graos e dos poros. As medidas de rugosidade foram realizadas sobre os graos de alumina e apresentaram valores da ordem de 70nm, independendo da ceramica ser virgem ou debastada. O uso da microscopia de forca atomica (SFM - scanning force microscopy) para medida de tamanho de poros e rugosidade deve ser vista como uma tecnica auxiliar de medida, uma vez que as imagens obtidas sao uma convolucao da topografia das amostras com a agulha que realiza a varredura. As imagens obtidas com MEV (microscopia eletronica de varredura) serviram como referencia na identificacao dos formatos dos poros e comparacao das microsestruturas. Os resultados obtidos sao aplicaveis em qualquer meio poroso.
Palavras-Chave: | Agricultural instrumentation; Ceramic; Ceramica; Congresses; Congressos; Instrumentacao agropecuaria; MFA; Microscopia de forca atomica; Scanning force microscopy; SFM; Superficie; Surface; Techniques; Tecnicas.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (5648-1) - UPC - SP - -- - PROCI-97.00020 -  - 1997.00020 - DIS