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Registro Completo |
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Biblioteca(s): |
Ebooks. |
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Data corrente: |
16/06/2011 |
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Data da última atualização: |
16/06/2011 |
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Autoria: |
FULTZ, B.; HOWE, J. M. |
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Afiliação: |
Brent Fultz; James M. Howe. |
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Título: |
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. |
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Edição: |
Third Edition. |
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Ano de publicação: |
2008 |
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Fonte/Imprenta: |
Springer eBooks. |
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Descrição Física: |
v.: digital |
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ISBN: |
9783540738862 |
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Idioma: |
Inglês |
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Palavras-Chave: |
Characterization and Evaluation of Materials; Particles (Nuclear physics); Physics and Applied Physics in Engineering; Solid State Physics and Spectroscopy; Surfaces (Physics); Surfaces and Interfaces, Thin Films. |
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Thesaurus Nal: |
chemistry; crystallography. |
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Categoria do assunto: |
-- |
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URL: |
https://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73886-2
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Marc: |
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Registro original: |
Ebooks (Ebooks) |
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| Registros recuperados : 2 | |
| 2. |  | LAGO, A. A. do; VILELLA, O. V.; MAEDA, J. A.; RAZERA, L. F.; TISSELLI FILHO, O.; MARCHI, L. de O. S. Epoca de Colheita e Qualidade das Sementes da Cultivar de Arroz Irrigado 'IAC-444'. Pesquisa Agropecuaria Brasileira, Brasilia, v.26, n.2, p.263-268, fev.1991| Biblioteca(s): Embrapa Unidades Centrais. |
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