Data/hora: 23/06/2024 07:23:08

Biblioteca(s): 	Embrapa Florestas.	
Data corrente: 	26/01/2010	
Data da última atualização: 	28/01/2010	
Autoria: 	BELINI, U. L.; TOMAZELLO FILHO, M.; CHAGAS, M. P.	
Título: 	Densitometria de raios X aplicada na avaliação tecnológica de painéis MDF de eucalipto.	
Ano de publicação: 	2009	
Fonte/Imprenta: 	Scientia Forestalis, São Paulo, n. 84, p. 343-350, dez. 2009.	
Idioma: 	Português	
Palavras-Chave: 	Densitometria; Painél MDF; Perfil de densidade.	
Thesagro: 	Raio X.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Florestas (CNPF)	
Exemplares: 	CNPF - (46503-1) - ADD - AP - PP -  -  -  - DIS