Data/hora: 20/06/2024 02:46:13

Biblioteca(s): 	Embrapa Instrumentação.	
Data corrente: 	05/04/2005	
Data da última atualização: 	05/04/2005	
Autoria: 	FIRMINO, A.; BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; RIUL JR.; A.; BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C.	
Título: 	AFM as a tool for development sensors.	
Ano de publicação: 	2003	
Fonte/Imprenta: 	Acta Microscopica, Maracaibo, v. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM.	
Idioma: 	Inglês	
Conteúdo: 	Atomic force microscopy (AFM) is a powerful tool for the characterisation of poiymeric fthns [ 1-4], however, only a few studies have being IDade using this technique in sensor applications. In the present work, It has been employed in the development of a taste sensor, siIK:.e the study of the interfacial phenomena at the electrode/electroiyte interface may lead to a better comlX"ehension of the basic transducing processes occurring at the nano-scale. 	
Palavras-Chave: 	Microscopia de Força Atômica; Polímeros; Sensores; Superfície.	
Categoria do assunto: 	--	
Registro original: 	Embrapa Instrumentação (CNPDIA)	
Exemplares: 	CNPDIA - (8783-1) - UPC - SP - -- - PROCI-03.00128 -  - 2003.00005 - DIS