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Registros recuperados : 4.988 | |
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Registro Completo
Biblioteca(s): |
Embrapa Instrumentação. |
Data corrente: |
28/04/2003 |
Data da última atualização: |
07/05/2008 |
Autoria: |
LEITE, F. de L.; HERRMANN JR. P. S. P. |
Afiliação: |
Embrapa Instrumentação Agropecuária, São Carlos, SP. |
Título: |
Propriedades estruturais e dinâmicas de materiais (filmes e materiais multimcamadas). |
Ano de publicação: |
2002 |
Fonte/Imprenta: |
In: ENCONTRO NACIONAL DE FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, 25., 2002, Caxambu. Resumos... Caxambu: [s.n.], 2002. |
Páginas: |
p. 257 |
Idioma: |
Português |
Notas: |
Resumo. |
Conteúdo: |
Apresenta os resultuados obtidos em um microscópio de força atômica (AFM) da linha Topometrix, Discoverer, modelo TMX 2010, utilizando cantilvere com contraste clássica de k+0,06N/m e uma ponta de raio de aproximadamente 50nm, da pesquisa realizada sobre filmes finos de água adsorvida sob uma superfícide de mica muscovita e quartzo. |
Palavras-Chave: |
AFM; Filmes finos; Microscópio de força atômica. |
Thesagro: |
Adsorção; Água. |
Categoria do assunto: |
-- |
Marc: |
LEADER 00993naa a2200217 a 4500 001 1024629 005 2008-05-07 008 2002 bl --- 0-- u #d 100 1 $aLEITE, F. de L. 245 $aPropriedades estruturais e dinâmicas de materiais (filmes e materiais multimcamadas). 260 $c2002 300 $ap. 257 500 $aResumo. 520 $aApresenta os resultuados obtidos em um microscópio de força atômica (AFM) da linha Topometrix, Discoverer, modelo TMX 2010, utilizando cantilvere com contraste clássica de k+0,06N/m e uma ponta de raio de aproximadamente 50nm, da pesquisa realizada sobre filmes finos de água adsorvida sob uma superfícide de mica muscovita e quartzo. 650 $aAdsorção 650 $aÁgua 653 $aAFM 653 $aFilmes finos 653 $aMicroscópio de força atômica 700 1 $aHERRMANN JR. P. S. P. 773 $tIn: ENCONTRO NACIONAL DE FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, 25., 2002, Caxambu. Resumos... Caxambu: [s.n.], 2002.
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Registro original: |
Embrapa Instrumentação (CNPDIA) |
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