BDPA - Bases de Dados da Pesquisa Agropecuária Embrapa
 






Ordenar por: RelevânciaAutorTítuloAnoImprime registros no formato resumido      Imprime registros no formato resumido
Registros recuperados : 65
Primeira ... 1234 ... Última
1.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Application of atomic force spectroscopy (AFS) to studies of adhesion phenomena: a review. Journal of Adhesion Science and Technology, Utrecht, v. 19, n. 3-5, p. 365-405, 2005.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
2.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
3.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN, P. S. P. Medidas de curva de força por microscopia de força atômica (MFA) para caracterizar água adsorvida em sólidos. In: SIMPÓSIO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DO CAMPUS DE RIO CLARO - SIC, 4., 2000, Rio Claro. SIC 2000. Rio Claro: UNESP-PET/SESU, 2000. p. 88.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
4.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; RIUL JUNIOR, A.; HERRMANN. P. Mapping of adhesion forces on soil minerals in air and water by atomic force spectroscopy (AFS). In: DRELICH, J.; MITTAL, K. L. (Ed.). Atomic force microscopy in adhesion studies. Leiden-Boston: VSP, 2005. p. 625-640.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
5.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; RIUL JÚNIOR, A.; HERRMANN, P. S. P. Mapping of adhesion forces on soil minerals in air and water by atomic force spectroscopy (AFS). Journal of adhesion Science and Technology, v. 17, n. 16, p. 2141-2156, 2003.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
6.Imagem marcado/desmarcadoMATUURA, T. B.; LEITE, F. L.; BERNARDES FILHO, R. Wheat gluten analysis by atomic force microscopy Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, 2003. Supplement A CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 3 f. 1 CD-ROM.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação; Embrapa Trigo.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
7.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; HERMANN, P. S. P. Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS). Microsc Microanal, v.11 (supp.3), p.130-133, 2005.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
8.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN JUNIOR, P. S. P. Adhesion phenomenon on clay minerals studied by atomic force spectroscopy (AFS). In: LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
9.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C.; LEITE, F. L.; BUENO, C. C.; MANZOLI, A.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P. Atomic force microscopy as a tool applied to nano/biosensors. Sensors, Basel, v. 12, p. 8278-8300, 2012.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroAcesso ao objeto digitalImprime registro no formato completo
10.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P. The atomic force spectroscopy as a tool to investigate surface forces: basic principles and applications. In: MÉNDEZ-VILA, A.; DÍAZ, J. (Ed.). Modern research and education topics in microscopy. Badajoz: Formatex, 2007. p. 747-757.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroAcesso ao objeto digitalImprime registro no formato completo
11.Imagem marcado/desmarcadoHERRMANN, P.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. Atomic force spectroscopy as a tool to study the electrical conductivity of polyaniline and derivatives. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOSCIENCE AND TECHNOLOGY - NANO, 9., 2006, Basel. Final Program... Basel, 2006. Entrada padronizada: HERRMANN, P. S. P. Entrada padronizada: MATTOSO, L. H. C.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
12.Imagem marcado/desmarcadoPIZZOLATO, P.; FIRMINO, A.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. H. C.; VAZ, C. M. P. Caracterização de filmes de PEDOT/PSS para aplicação em sensores interdigitados. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIÊNCIA DOS MATERIAIS, 16., Porto Alegre, 2004. Anais... Porto Alegre, 2004.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
13.Imagem marcado/desmarcadoBORATO, C. E.; LEITE, F. L.; OLIVEIRA JR, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Efficient taste sensors made of bare metal electrodes. Sensor Letters, University Park, Pennsylvania, v. 4, n. 2, p. 1-5, 2006.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
14.Imagem marcado/desmarcadoBORATO, C.; LEITE, F. L.; OLIVEIRA JR. O. N.; MATTOSO, L. H. C. Highly sensitive sensor arrays of chrome electrodes for tste sensors. In: ENCONTRO DA SBPMat, 3. Foz do Iguaçu, 2004. Resumos...Foz do Iguaçu, 2004.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
15.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; FATIBELLO, O.; HERRMANN, P. S. P. Investigation of a sensitive layer of polyaniline as coating for microcantilever as a nanosensor. In: NANOMECHANICAL SENSING WORKSHOP-NMC, 9., Bombay Mumbai, India. Proceedings... Bombay: National Program on Micro and Smart Systems - NPMASS, Indian Nanoelectronics Users Program - INUP, 2012. p. 78-79.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroAcesso ao objeto digitalImprime registro no formato completo
16.Imagem marcado/desmarcadoHERRMANN JUNIOR, P. S. de P.; LEITE, F. L.; MANZOLI, A.; STEFFENS, C. Microcantilever used in atomic force microscopy, as a toolbox to biotechnology In: ANNUAL MEETING FOR BRAZILIAN SOCIETY FOR BIOCHEMISTRY AND MOLECULAR BIOLOGY - SBBq, 41., Foz do Iguaçú, Brasil. Resumos... Foz do Iguaçu: SBBq, 2012. não paginado.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroAcesso ao objeto digitalImprime registro no formato completo
17.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Sensores de microcantilever revestidos com polímeros condutores, utilizado na detecção de umidade relativa. In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 6., 2012, Fortaleza. Anais... São Carlos: Embrapa Instrumentação; Fortaleza: Embrapa Agroindústria Tropical, 2012. p. 79-81. Editores: Maria Alice Martins, MOrsyleide de Freitas Rosa, Men de Sá Moreira de Souza Filho, Nicodemos Moreira dos Santos Junior, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroAcesso ao objeto digitalImprime registro no formato completo
18.Imagem marcado/desmarcadoSOUZA, A. L.; LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P.; RODRIGUES FILHO, U. P. Tailoring silicon surfaces aminoalkoxysilanes and phosphotungstic acid hybrid films. In: WOKSHOP DA PÓS-GRADUAÇAO, 9.; 2005, São Carlos. A contribuição do IQSC para a inovação e o desenvolvimento científico e tecnológico. Resumos... São Carlos: IQSC, 2005. p. 152.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
19.Imagem marcado/desmarcadoFIRMINO, A.; BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; RIUL JR.; A.; BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. AFM as a tool for development sensors. Acta Microscopica, Maracaibo, v. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
20.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Application of atomic force microscopy on adsorption process: characterization and modeling. In: ENCONTRO DA SBPMat, 3. Foz do Iguaçu, 2004. Resumos...Foz do Iguaçu, 2004.

Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.

Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
Registros recuperados : 65
Primeira ... 1234 ... Última






Ordenar por: RelevânciaAutorTítuloAnoImprime registros no formato resumido      Imprime registros no formato resumido
Registros recuperados : 65
Primeira ... 1234 ... Última
1.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Application of atomic force spectroscopy (AFS) to studies of adhesion phenomena: a review. Journal of Adhesion Science and Technology, Utrecht, v. 19, n. 3-5, p. 365-405, 2005.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
2.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Caracterization of adhesion force, of two soil minerals particles (mica and siicon), in the nanoscale, using atomic force microscopy (AFM). Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. 1 CD-ROM.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
3.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN, P. S. P. Medidas de curva de força por microscopia de força atômica (MFA) para caracterizar água adsorvida em sólidos. In: SIMPÓSIO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DO CAMPUS DE RIO CLARO - SIC, 4., 2000, Rio Claro. SIC 2000. Rio Claro: UNESP-PET/SESU, 2000. p. 88.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
4.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; RIUL JUNIOR, A.; HERRMANN. P. Mapping of adhesion forces on soil minerals in air and water by atomic force spectroscopy (AFS). In: DRELICH, J.; MITTAL, K. L. (Ed.). Atomic force microscopy in adhesion studies. Leiden-Boston: VSP, 2005. p. 625-640.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
5.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; RIUL JÚNIOR, A.; HERRMANN, P. S. P. Mapping of adhesion forces on soil minerals in air and water by atomic force spectroscopy (AFS). Journal of adhesion Science and Technology, v. 17, n. 16, p. 2141-2156, 2003.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
6.Imagem marcado/desmarcadoMATUURA, T. B.; LEITE, F. L.; BERNARDES FILHO, R. Wheat gluten analysis by atomic force microscopy Acta Microscopica, Maracaibo, v.12, 2003. Supplement A CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 3 f. 1 CD-ROM.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
7.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; OLIVEIRA JÚNIOR, O. N.; HERMANN, P. S. P. Adhesion forces for mica and silicon oxide surfaces studied by Atomic Force Spectroscopy (AFS). Microsc Microanal, v.11 (supp.3), p.130-133, 2005.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
8.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; ZIEMATH, E. C.; HERRMANN JUNIOR, P. S. P. Adhesion phenomenon on clay minerals studied by atomic force spectroscopy (AFS). In: LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
9.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C.; LEITE, F. L.; BUENO, C. C.; MANZOLI, A.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P. Atomic force microscopy as a tool applied to nano/biosensors. Sensors, Basel, v. 12, p. 8278-8300, 2012.
Tipo: Artigo em Periódico IndexadoCirculação/Nível: A - 1
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroAcesso ao objeto digitalImprime registro no formato completo
10.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; MATTOSO, L. H. C.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN JUNIOR, P. S. de P. The atomic force spectroscopy as a tool to investigate surface forces: basic principles and applications. In: MÉNDEZ-VILA, A.; DÍAZ, J. (Ed.). Modern research and education topics in microscopy. Badajoz: Formatex, 2007. p. 747-757.
Tipo: Capítulo em Livro Técnico-Científico
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroAcesso ao objeto digitalImprime registro no formato completo
11.Imagem marcado/desmarcadoHERRMANN, P.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. C.; OLIVEIRA JUNIOR, O. Atomic force spectroscopy as a tool to study the electrical conductivity of polyaniline and derivatives. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOSCIENCE AND TECHNOLOGY - NANO, 9., 2006, Basel. Final Program... Basel, 2006. Entrada padronizada: HERRMANN, P. S. P. Entrada padronizada: MATTOSO, L. H. C.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
12.Imagem marcado/desmarcadoBORATO, C. E.; LEITE, F. L.; OLIVEIRA JR, O. N.; MATTOSO, L. H. C. Efficient taste sensors made of bare metal electrodes. Sensor Letters, University Park, Pennsylvania, v. 4, n. 2, p. 1-5, 2006.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
13.Imagem marcado/desmarcadoPIZZOLATO, P.; FIRMINO, A.; LEITE, F. L.; MATTOSO, L. H. C.; VAZ, C. M. P. Caracterização de filmes de PEDOT/PSS para aplicação em sensores interdigitados. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIÊNCIA DOS MATERIAIS, 16., Porto Alegre, 2004. Anais... Porto Alegre, 2004.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
14.Imagem marcado/desmarcadoBORATO, C.; LEITE, F. L.; OLIVEIRA JR. O. N.; MATTOSO, L. H. C. Highly sensitive sensor arrays of chrome electrodes for tste sensors. In: ENCONTRO DA SBPMat, 3. Foz do Iguaçu, 2004. Resumos...Foz do Iguaçu, 2004.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
15.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P. Sensores de microcantilever revestidos com polímeros condutores, utilizado na detecção de umidade relativa. In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 6., 2012, Fortaleza. Anais... São Carlos: Embrapa Instrumentação; Fortaleza: Embrapa Agroindústria Tropical, 2012. p. 79-81. Editores: Maria Alice Martins, MOrsyleide de Freitas Rosa, Men de Sá Moreira de Souza Filho, Nicodemos Moreira dos Santos Junior, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso.
Tipo: Artigo em Anais de Congresso
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroAcesso ao objeto digitalImprime registro no formato completo
16.Imagem marcado/desmarcadoHERRMANN JUNIOR, P. S. de P.; LEITE, F. L.; MANZOLI, A.; STEFFENS, C. Microcantilever used in atomic force microscopy, as a toolbox to biotechnology In: ANNUAL MEETING FOR BRAZILIAN SOCIETY FOR BIOCHEMISTRY AND MOLECULAR BIOLOGY - SBBq, 41., Foz do Iguaçú, Brasil. Resumos... Foz do Iguaçu: SBBq, 2012. não paginado.
Tipo: Resumo em Anais de Congresso
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroAcesso ao objeto digitalImprime registro no formato completo
17.Imagem marcado/desmarcadoSTEFFENS, C.; SANDOVAL, R. D.; MANZOLI, A.; LEITE, F. L.; FATIBELLO, O.; HERRMANN, P. S. P. Investigation of a sensitive layer of polyaniline as coating for microcantilever as a nanosensor. In: NANOMECHANICAL SENSING WORKSHOP-NMC, 9., Bombay Mumbai, India. Proceedings... Bombay: National Program on Micro and Smart Systems - NPMASS, Indian Nanoelectronics Users Program - INUP, 2012. p. 78-79.
Tipo: Artigo em Anais de Congresso
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroAcesso ao objeto digitalImprime registro no formato completo
18.Imagem marcado/desmarcadoSOUZA, A. L.; LEITE, F. L.; HERRMANN, P. S. P.; RODRIGUES FILHO, U. P. Tailoring silicon surfaces aminoalkoxysilanes and phosphotungstic acid hybrid films. In: WOKSHOP DA PÓS-GRADUAÇAO, 9.; 2005, São Carlos. A contribuição do IQSC para a inovação e o desenvolvimento científico e tecnológico. Resumos... São Carlos: IQSC, 2005. p. 152.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
19.Imagem marcado/desmarcadoLEITE, F. L.; BORATO, C. E.; OLIVEIRA, O. N.; HERRMANN, P. S. P.; FROMMER, J. E.; MATTOSO, L. H. Atomic force spectroscopy as a tool to study thin film og conductive polymer in solution with different pHs. LATIN AMERICAM SYMPOSIUM ON SCANNING PROBE MICROSCOPY, 3., 2005, Ouro Preto. [Anais eletrônicos...]. Ouro Preto: SBMN, 2005. 1 CD-ROM.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
20.Imagem marcado/desmarcadoFIRMINO, A.; BORATO, C. E.; LEITE, F. L.; RIUL JR.; A.; BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C. AFM as a tool for development sensors. Acta Microscopica, Maracaibo, v. 12, Apr. 2003. Supplement A. CD de trabalhos e resumos apresentados no Second Latin American Symposium on Scanning Probe Microscopy, Búzios, Apr. 2003. 2 f. Invited paper. 1 CD-ROM.
Biblioteca(s): Embrapa Instrumentação.
Visualizar detalhes do registroImprime registro no formato completo
Registros recuperados : 65
Primeira ... 1234 ... Última
Nenhum registro encontrado para a expressão de busca informada.
 
 

Embrapa
Todos os direitos reservados, conforme Lei n° 9.610
Política de Privacidade
Área Restrita

Embrapa Informática Agropecuária
Av. André Tosello, 209 - Barão Geraldo
Caixa Postal 6041- 13083-886 - Campinas, SP
PABX: SAC (19) 3211-5743
SAC: https://www.embrapa.br/fale-conosco

Valid HTML 4.01 Transitional