Data/hora: 08/06/2024 18:09:40

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 21/02/2006
Data da última atualização: | 21/02/2006
Autoria: | ASSIS, O. B. G.; VIEIRA, D. C.; BERNARDES-FILHO, R.
Título: | Surface evaluation of self-assembled multilayered organic films by atomic force microscopy.
Ano de publicação: | 1999
Fonte/Imprenta: | Scanning: the journal of scanning microscopies, Mahwah, v.21, n.2, p.71-72, Mar./Apr. 1999.
Idioma: | Inglês
Conteúdo: | Multilayered organic thin films fixed on glass substrate were prepared by self-assembly technique and characterized by atomic force microscopy (AFM). The main aim was to organize composed organic wafers of enzyme and polysaccharide materials built onto solid substrates for the purpose of biochemical and biomedical applications.
Palavras-Chave: | AFM; Aplicações em bioquímica e biomédica; Microscopia de Força Atômica.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (9429-1) - UPC - SP - -- - PROCI-99.00011 -  - 1999.00011 - DIS